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1. (WO2018043655) 病理標本作製装置、病理標本作製システム
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国際公開番号: WO/2018/043655 国際出願番号: PCT/JP2017/031401
国際公開日: 08.03.2018 国際出願日: 31.08.2017
IPC:
G01N 1/28 (2006.01) ,G01N 1/38 (2006.01) ,G01N 33/48 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
1
サンプリング;調査用標本の調製
28
調査用標本の調製
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
1
サンプリング;調査用標本の調製
28
調査用標本の調製
38
試料の希釈,撹拌または混合
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
33
グループ1/00から31/00に包含されない,特有な方法による材料の調査または分析
48
生物学的材料,例.血液,尿;血球計
出願人:
秋田エプソン株式会社 AKITA EPSON CORPORATION [JP/JP]; 秋田県湯沢市岩崎字壇ノ上1番地 1, Dannoue, Iwasaki, Yuzawa-shi, Akita 0120801, JP
発明者:
青木 太朗 AOKI Taro; JP
佐藤 正 SATO Tadashi; JP
鈴木 洋一 SUZUKI Yoichi; JP
門田 正幸 KADOTA Masayuki; JP
佐藤 遼 SATO Ryo; JP
代理人:
渡辺 和昭 WATANABE Kazuaki; JP
西田 圭介 NISHIDA Keisuke; JP
仲井 智至 NAKAI Satoshi; JP
優先権情報:
2016-17056401.09.2016JP
2017-15846321.08.2017JP
発明の名称: (EN) PATHOLOGY SPECIMEN PREPARATION DEVICE AND PATHOLOGY SPECIMEN PREPARATION SYSTEM
(FR) DISPOSITIF DE PRÉPARATION D'ÉCHANTILLON PATHOLOGIQUE ET SYSTÈME DE PRÉPARATION D'ÉCHANTILLON PATHOLOGIQUE
(JA) 病理標本作製装置、病理標本作製システム
要約:
(EN) To provide a pathology specimen preparation device capable of preparing an appropriate pathology specimen, and a pathology specimen preparation system provided with the pathology specimen preparation device. A pathology specimen preparation device 100 has a stage part 110 including a stage 10, a reagent supply part 150 capable of supplying a reagent to a substrate W mounted on the stage 10, a washing part 130 capable of supplying a washing liquid also to the substrate W, an electric field stirring part 170 capable of applying an electric field to and stirring the reagent or the washing liquid supplied to the substrate W, and a control part, the washing part 130, the reagent supply part 150, and the electric field stirring part 170 being disposed in order in the Y direction as a first direction, and the pathology specimen preparation device 100 being provided with a stage conveyance mechanism for moving the stage 10 in the Y direction and a stage tilting mechanism for tilting the stage 10 in the X direction as a second direction intersecting with the Y direction.
(FR) L'invention concerne un dispositif de préparation d'échantillon pathologique capable de préparer un échantillon pathologique approprié, et un système de préparation d'échantillon pathologique comportant le dispositif de préparation d'échantillon pathologique. Un dispositif de préparation d'échantillon pathologique 100 comprend une partie-platine 110 comprenant une platine 10, une partie d'approvisionnement en réactif 150 capable d'alimenter en réactif un substrat W monté sur la platine 10, une partie de lavage 130 capable également d’alimenter en liquide de lavage le substrat W, une partie d'agitation par champ électrique 170 capable d'appliquer un champ électrique sur et d'agiter le réactif ou le liquide de lavage alimentant le substrat W, et une partie de commande, la partie de lavage 130, la partie d'approvisionnement en réactif 150, et la partie d'agitation par champ électrique 170 étant placées dans l'ordre dans la direction Y servant de première direction, et le dispositif de préparation d'échantillon pathologique 100 comportant un mécanisme de transport de platine permettant de déplacer la platine 10 dans la direction Y et un mécanisme permettant d'incliner la platine 10 dans la direction X servant de seconde direction et formant une intersection avec la direction Y.
(JA) 適正な病理標本の作製が可能な病理標本作製装置、該病理標本作製装置を備えた病理標本作製システムを提供すること。 病理標本作製装置100は、ステージ10を含むステージ部110と、ステージ10に載置された基板Wに対して試薬を供給可能な試薬供給部150と、同じく基板Wに対して洗浄液を供給可能な洗浄部130と、基板Wに供給された試薬または洗浄液に電界を印加して撹拌可能な電界撹拌部170と、制御部とを有し、洗浄部130と、試薬供給部150と、電界撹拌部170とが、第1の方向としてのY方向に順に配置され、Y方向にステージ10を移動させるステージ搬送機構と、ステージ10が洗浄部130に位置するときに、ステージ10をY方向と交差する第2の方向としてのX方向に傾斜させるステージ傾斜機構と、を備えた。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)