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1. (WO2018043438) 光学測定装置、光学測定方法、及び応力検査方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報    第三者情報を提供

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2018/043438    国際出願番号:    PCT/JP2017/030814
国際公開日: 08.03.2018 国際出願日: 28.08.2017
予備審査請求日:    29.01.2018    
IPC:
G01N 21/23 (2006.01), G01N 21/27 (2006.01), G01N 21/3581 (2014.01)
出願人: KEIO UNIVERSITY [JP/JP]; 15-45, Mita 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1088345 (JP)
発明者: WATANABE, Shinichi; (JP).
OKANO, Makoto; (JP)
代理人: ITOH, Tadashige; (JP).
ITOH, Tadahiko; (JP)
優先権情報:
2016-167370 29.08.2016 JP
発明の名称: (EN) OPTICAL MEASUREMENT DEVICE, OPTICAL MEASUREMENT METHOD, AND STRESS INSPECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE OPTIQUE, PROCÉDÉ DE MESURE OPTIQUE, ET PROGRAMME DE MESURE OPTIQUE
(JA) 光学測定装置、光学測定方法、及び応力検査方法
要約: front page image
(EN)The internal state of a sample, and particularly the internal state of a polymer material containing additives, is easily measured in a non-destructive and non-contact manner. The optical measurement device comprises: a terahertz light source; a detector which detects terahertz light output from the terahertz light source and transmitted through or reflected by a sample; an optical element which is disposed between the position of the sample and the detector, and which changes the polarization of the terahertz light from the sample; a polarization control means for controlling the changes in polarization made by the optical element; and an analysis unit for detecting polarization components from the terahertz light detected by the detector, and calculating, on the basis of the detected polarization components, an orientation (θ) of the individual axis of the sample and the anisotropic refractive index (Δn).
(FR)Selon la présente invention, l'état interne d'un échantillon, et en particulier l'état interne d'un matériau polymère contenant des additifs, est facilement mesuré de manière non destructive et sans contact. La présente invention concerne un dispositif de mesure optique qui comprend : une source de lumière térahertz ; un détecteur qui détecte une lumière térahertz émise par la source de lumière térahertz et transmise à travers un échantillon ou réfléchie par un échantillon ; un élément optique qui est disposé entre la position de l'échantillon et le détecteur, et qui change la polarisation de la lumière térahertz de l'échantillon ; un moyen de commande de polarisation pour commander les changements de polarisation effectués par l'élément optique ; et une unité d'analyse pour détecter des composantes de polarisation de la lumière térahertz détectée par le détecteur, et calculer, sur la base des composantes de polarisation détectées, une orientation (θ) de l'axe individuel de l'échantillon et l'indice de réfraction anisotrope (Δn).
(JA)サンプル内部の状態、特に添加物を含む高分子材料の内部状態を非破壊・非接触で簡易に測定する。光学測定装置は、テラヘルツ光源と、前記テラヘルツ光源から出射されサンプルを透過または反射されたテラヘルツ光を検出する検出器と、サンプル位置と前記検出器の間に配置されて前記サンプルからの前記テラヘルツ光の偏光を変化させる光学素子と、前記光学素子による前記偏光の変化を制御する偏光制御手段と、前記検出器で検出されたテラヘルツ光から偏光成分を検出し、検出した前記偏光成分に基づいて前記サンプルの固有軸の向き(θ)と屈折率異方性(Δn)を算出する解析部と、を有する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)