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1. (WO2018042887) 測距装置、および、測距装置の制御方法

Pub. No.:    WO/2018/042887    International Application No.:    PCT/JP2017/025072
Publication Date: Fri Mar 09 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Tue Jul 11 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01S 17/89
G01C 3/06
G01S 17/93
H04N 5/232
H04N 5/3745
Applicants: SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION
ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社
Inventors: OHKI, Mitsuharu
大木 光晴
Title: 測距装置、および、測距装置の制御方法
Abstract:
間欠光を受光する測距装置においてデプスマップの画質を向上させる。 画素アレイ部には、所定の間欠光を受光する複数の画素が二次元格子状に配列される。連続光画像データ生成部(310)は、複数の画素のそれぞれの受光データ(Q1~Q4)に基づいて所定の連続光の輝度を示す複数の画素データを二次元格子状に配列した連続光画像データ(IR)を生成する。デプスマップ生成部(320)は、複数の画素のそれぞれに対応する距離情報を配列したデプスマップ(D)を受光データ(Q1~Q4)および連続光画像データ(IR)から生成する。