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1. (WO2018037787) テスト項目生成方法、演算装置
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国際公開番号: WO/2018/037787 国際出願番号: PCT/JP2017/026374
国際公開日: 01.03.2018 国際出願日: 20.07.2017
IPC:
G06F 11/263 (2006.01) ,G01R 31/3183 (2006.01) ,G06F 11/36 (2006.01) ,G06F 17/50 (2006.01)
G 物理学
06
計算;計数
F
電気的デジタルデータ処理
11
エラー検出;エラー訂正;監視
22
待機作動中または遊休時間中の検査によるコンピュータ故障箇所の検出または故障位置の指示,例.始動試験
26
機能試験
263
試験入力の発生,例.テストベクトル,パターンまたはシーケンス
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28
電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
317
デジタル回路の試験
3181
機能試験
3183
試験入力,例.テストベクトル,パターンまたはシーケンス,の発生
G 物理学
06
計算;計数
F
電気的デジタルデータ処理
11
エラー検出;エラー訂正;監視
36
ソフトウェアを検査またはデバッグすることによるエラー防止
G 物理学
06
計算;計数
F
電気的デジタルデータ処理
17
特定の機能に特に適合したデジタル計算またはデータ処理の装置または方法
50
計算機利用設計
出願人:
日立オートモティブシステムズ株式会社 HITACHI AUTOMOTIVE SYSTEMS, LTD. [JP/JP]; 茨城県ひたちなか市高場2520番地 2520, Takaba, Hitachinaka-shi, Ibaraki 3128503, JP
発明者:
中川 雄一郎 NAKAGAWA, Yuichiroh; JP
月舘 統宙 TSUKIDATE, Tsunamichi; JP
蛯名 朋仁 EBINA, Tomohito; JP
代理人:
特許業務法人サンネクスト国際特許事務所 SUNNEXT INTERNATIONAL PATENT OFFICE; 東京都品川区東品川二丁目3番12号 シーフォ-トスクエア センタ-ビルディング16階 Seafort Square Center Building, 16F, 2-3-12, Higashishinagawa, Shinagawa-ku, Tokyo 1400002, JP
優先権情報:
2016-16171622.08.2016JP
発明の名称: (EN) TEST ITEM GENERATION METHOD AND COMPUTATION DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE GÉNÉRATION D'ÉLÉMENTS DE TEST ET DISPOSITIF DE CALCUL
(JA) テスト項目生成方法、演算装置
要約:
(EN) A test item generation method for generating test items in a computation device provided with a plurality of CPU cores for executing a plurality of tasks and a common resource accessed by the plurality of CPU cores is as follows. That is, the test item generation method comprises: specifying, by a computer, a task among the plurality of tasks that accesses the common resource; classifying, by the computer, the plurality of tasks according to the executing CPU cores; specifying, by the computer, orders of execution of the plurality of classified tasks in the CPU cores; and generating, by the computer, test items by generating a plurality of task execution sequences that match the specified orders of execution of the plurality of tasks in the CPU cores, and in which the orders of execution of two or more tasks being executed respectively in different CPU cores and accessing the common resource are transposed.
(FR) La présente invention porte sur un procédé de génération d'éléments de test pour générer des éléments de test dans un dispositif de calcul pourvu d'une pluralité de cœurs d'unités centrales pour exécuter une pluralité de tâches et une ressource commune accessible par la pluralité de cœurs d'unités centrales. Autrement dit, le procédé de génération d'éléments de test consiste à : spécifier, par un ordinateur, une tâche parmi la pluralité de tâches qui accède à la ressource commune; classifier, par l'ordinateur, la pluralité de tâches selon les cœurs d'unité centrale d'exécution; spécifier, par l'ordinateur, des instructions d'exécution de la pluralité de tâches classées dans les cœurs d'unités centrales; et générer, par l'ordinateur, des éléments de test par génération d'une pluralité de séquences d'exécution de tâche qui correspondent aux instructions d'exécution spécifiées de la pluralité de tâches dans les cœurs d'unités centrales, et dans lesquels les instructions d'exécution d'au moins deux tâches étant exécutées respectivement dans différents cœurs d'unités centrales et accédant à la ressource commune sont transposées.
(JA) 複数のタスクを実行する複数のCPUコア、および複数のCPUコアがアクセスする共有資源を備える演算装置におけるテスト項目を生成するテスト項目生成方法は以下のとおりである。すなわち、コンピュータが、複数のタスクのうち、共有資源にアクセスするタスクを特定することと、コンピュータが、複数のタスクを、実行されるCPUコアごとに分類することと、コンピュータが、分類された複数のタスクのCPUコア内における実行順番を特定することと、コンピュータが、特定されたCPUコア内における複数のタスクの実行順番に適合し、かつ異なるCPUコアでそれぞれ実行される共有資源にアクセスする2以上のタスクの実行順番が互いに入れ替えられたタスク実行順列を複数生成することにより、テスト項目を生成することとを備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)