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1. (WO2018034057) 欠陥検査装置、欠陥検査方法、およびプログラム
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国際公開番号: WO/2018/034057 国際出願番号: PCT/JP2017/022741
国際公開日: 22.02.2018 国際出願日: 20.06.2017
予備審査請求日: 11.05.2018
IPC:
G01N 23/18 (2006.01) ,G01N 21/88 (2006.01) ,G01N 23/04 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23
グループG01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
02
放射線の材料透過によるもの
06
吸収の測定
08
電気的検出手段の利用
18
きずまたは介在物の存在の調査
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84
特殊な応用に特に適合したシステム
88
きず,欠陥,または汚れの存在の調査
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23
グループG01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
02
放射線の材料透過によるもの
04
映像形成
出願人:
富士フイルム株式会社 FUJIFILM CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西麻布2丁目26番30号 26-30, Nishiazabu 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1068620, JP
発明者:
金子 康彦 KANEKO, Yasuhiko; JP
代理人:
松浦 憲三 MATSUURA, Kenzo; JP
優先権情報:
2016-16077018.08.2016JP
発明の名称: (EN) DEFECT INSPECTION APPARATUS, DEFECT INSPECTION METHOD, AND PROGRAM
(FR) APPAREIL D'INSPECTION DE DÉFAUTS, PROCÉDÉ D'INSPECTION DE DÉFAUTS, ET PROGRAMME
(JA) 欠陥検査装置、欠陥検査方法、およびプログラム
要約:
(EN) The purpose of the present invention is to provide a defect inspection apparatus, a defect inspection method, and a program which assist a radiographer so as to enable quick and accurate image reading. A defect inspection apparatus (10) is provided with: an image acquisition unit; an image processing unit; a storage unit (24); a defect candidate classification unit for imparting a defect classification to an extracted defect candidate image on the basis of classification information stored in the storage unit (24); a display unit (18) for displaying a received image; an operation unit (14) for accepting a selection between whether to cause the display unit (18) to display or to not display a candidate display indicating the position of a defect candidate image and the classification of the defect candidate image, and outputting a command to display or not display the candidate display according to the selection; and a display control unit for causing the display unit (18) to display or not display the candidate display on the basis of the command outputted from the operation unit (14).
(FR) La présente invention vise à fournir un appareil d'inspection de défauts, un procédé d'inspection de défauts et un programme qui aident un radiographe pour permettre une lecture d'image rapide et précise. Un appareil d'inspection de défauts (10) est pourvu : d'une unité d'acquisition d'image; d'une unité de traitement d'image; d'une unité de stockage (24); d'une unité de classification de candidat défaut pour impartir une classification de défaut à une image de candidat défaut extraite sur la base d'informations de classification stockées dans l'unité de stockage (24); d'une unité d'affichage (18) pour afficher une image reçue; d'une unité d'opération (14) pour accepter une sélection entre l'opportunité d'entraîner l'affichage ou non par l'unité d'affichage (18) d'un affichage candidat indiquant la position d'une image de candidat défaut et la classification de l'image de candidat défaut, et délivrer en sortie une commande pour afficher ou non l'affichage candidat en fonction de la sélection; et d'une unité de commande d'affichage pour amener l'unité d'affichage (18) à afficher ou non l'affichage candidat sur la base de la commande délivrée par l'unité d'opération (14).
(JA) 本発明は、読影を正確に且つ迅速に行えるように読影者を支援する欠陥検査装置、欠陥検査方法、およびプログラムを提供することを目的とする。欠陥検査装置(10)は、画像取得部と、画像処理部と、記憶部(24)と、記憶部(24)に記憶された分類情報に基づいて、抽出した欠陥候補画像に欠陥の分類を付与する欠陥候補分類部と、受光画像を表示する表示部(18)と、欠陥候補画像の位置および欠陥候補画像の分類を示す補助表示の表示部(18)への表示または非表示の選択を受け付け、選択された補助表示の表示または非表示の指令を出力する操作部(14)と、操作部(14)から出力される指令に基づいて、補助表示を表示部(18)に表示または非表示にする表示制御部と、を備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)