このアプリケーションの一部のコンテンツは現時点では利用できません。
このような状況が続く場合は、にお問い合わせくださいフィードバック & お問い合わせ
1. (WO2018030030) 全体統合解析モデル支援装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報    第三者情報を提供

国際公開番号: WO/2018/030030 国際出願番号: PCT/JP2017/024424
国際公開日: 15.02.2018 国際出願日: 04.07.2017
IPC:
G06F 17/50 (2006.01) ,G06Q 10/04 (2012.01) ,G06Q 50/04 (2012.01)
G 物理学
06
計算;計数
F
電気的デジタルデータ処理
17
特定の機能に特に適合したデジタル計算またはデータ処理の装置または方法
50
計算機利用設計
G 物理学
06
計算;計数
Q
管理目的,商用目的,金融目的,経営目的,監督目的または予測目的に特に適合したデータ処理システムまたは方法;他に分類されない,管理目的,商用目的,金融目的,経営目的,監督目的または予測目的に特に適合したシステムまたは方法
10
管理;経営
04
予測あるいは最適化,例.線形計画法,巡回セールスマン問題,板取問題
G 物理学
06
計算;計数
Q
管理目的,商用目的,金融目的,経営目的,監督目的または予測目的に特に適合したデータ処理システムまたは方法;他に分類されない,管理目的,商用目的,金融目的,経営目的,監督目的または予測目的に特に適合したシステムまたは方法
50
特定の業種に特に適合したシステムまたは方法,例.公益事業または観光業
04
製造業
出願人:
株式会社日立製作所 HITACHI, LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目6番6号 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280, JP
発明者:
野中 紀彦 NONAKA Norihiko; JP
海保 真行 KAIHO Masayuki; JP
代理人:
戸田 裕二 TODA Yuji; JP
優先権情報:
2016-15518708.08.2016JP
発明の名称: (EN) TOTALLY INTEGRATED ANALYSIS MODEL ASSISTANCE DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE TOTALEMENT INTÉGRÉ AVEC ASSISTANCE DE MODÈLES
(JA) 全体統合解析モデル支援装置
要約:
(EN) The purpose of the present invention is to improve analysis accuracy and reduce analysis time. A totally integrated analysis device for simultaneously estimating the performance and the manufacturing cost of a mechanical structure to be analyzed, said totally integrated analysis device comprising: a means for displaying an analysis process input screen, and also displaying an analysis process when an analysis node having an analysis program has been selected; a means for displaying an analysis condition input screen and also displaying input conditions needed for analysis; a means for creating an analysis model in accordance with the analysis process, then analyzing and estimating the performance of the mechanical structure, and analyzing and estimating the manufacturing cost on the basis of the performance estimation result; a means for acquiring past manufacturing cost information; a means for displaying a data analysis condition input screen and also displaying analysis conditions; a means for grouping the past manufacturing cost information by means of a clustering technique; a means for visualizing the results obtained by the grouping means, as a graph; and a means for acquiring and displaying analysis results.
(FR) La présente invention a pour objet d'améliorer la précision d'analyse et de réduire la durée d'analyse. Un dispositif d'analyse totalement intégré selon l'invention sert à estimer simultanément les performances et le coût de fabrication d'une structure mécanique à analyser, ledit dispositif d'analyse totalement intégré comportant: un moyen servant à afficher un écran d'entrée de processus d'analyse, et à afficher également un processus d'analyse lorsque un nœud d'analyse doté d'un programme d'analyse a été sélectionné; un moyen servant à afficher un écran d'entrée de conditions d'analyse et à afficher également des conditions d'entrée nécessaires à l'analyse; un moyen servant à créer un modèle d'analyse d'après le processus d'analyse, puis à analyser et à estimer les performances de la structure mécanique, et à analyser et à estimer le coût de fabrication sur la base du résultat d'estimation des performances; un moyen servant à acquérir des informations de coût de fabrication antérieur; un moyen servant à afficher un écran d'entrée de conditions d'analyse de données et à afficher également des conditions d'analyse; un moyen servant à grouper les informations de coût de fabrication antérieur au moyen d'une technique de regroupement; un moyen servant à visualiser les résultats obtenus par le moyen de groupement, sous la forme d'un graphe; et un moyen servant à acquérir et à afficher des résultats d'analyse.
(JA) 解析精度の向上、解析時間の短縮化を図る。解析対象である機械構造物の性能と製造コストとを同時に予測する全体統合解析装置であって、解析プロセス入力画面を表示し、解析プログラムを有する解析ノードを選択することにより解析プロセスを表示する手段と、解析条件入力画面を表示し、解析に必要な入力条件を表示する手段と、前記解析プロセスに従った解析モデルを作成して性能予測を解析し、該性能予測の結果に従って、製造コストを解析する手段と、過去の製造コスト情報を取得する手段と、データ分析条件入力画面を表示し、分析条件を表示する手段と、前記過去の製造コスト情報を、クラスタリング手法によりグループ分けする手段と、該グループ分けする手段によって得られる結果をグラフとして可視化する手段と、解析結果を取得して表示する手段と、を有する。
front page image
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)