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1. (WO2018025876) 測定装置及び測定方法
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国際公開番号: WO/2018/025876 国際出願番号: PCT/JP2017/027935
国際公開日: 08.02.2018 国際出願日: 01.08.2017
IPC:
G01N 27/414 (2006.01) ,G01N 15/00 (2006.01) ,G01N 27/416 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27
電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
26
電気化学的変量の調査によるもの;電解または電気泳動の利用によるもの
403
セルと電極の組合せ
414
イオン感応性または化学的電界効果トランジスタ,例.ISFETSまたはCHEMFETS
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
15
粒子の特徴の調査;多孔性材料の透過率,気孔量または表面積の調査
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27
電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
26
電気化学的変量の調査によるもの;電解または電気泳動の利用によるもの
416
システム
出願人:
国立大学法人東京大学 THE UNIVERSITY OF TOKYO [JP/JP]; 東京都文京区本郷七丁目3番1号 3-1, Hongo 7-chome, Bunkyo-ku, Tokyo 1138654, JP
株式会社AFIテクノロジー AFI CORPORATION [JP/JP]; 京都府京都市左京区吉田下阿達町46 46, Yoshidashimoadachi-cho, Sakyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6068501, JP
発明者:
坂田 利弥 SAKATA Toshiya; JP
円城寺 隆治 ENJOJI Takaharu; JP
脇坂 嘉一 WAKIZAKA Yoshikazu; JP
代理人:
吉田 正義 YOSHIDA Tadanori; JP
優先権情報:
2016-15319503.08.2016JP
発明の名称: (EN) MEASUREMENT APPARATUS AND MEASUREMENT METHOD
(FR) APPAREIL DE MESURE ET PROCÉDÉ DE MESURE
(JA) 測定装置及び測定方法
要約:
(EN) Provided are a measurement apparatus and a measurement method that can achieve further simplification. A measurement apparatus (10A) provided with a measurement unit (12) for measuring charges is characterized in that the measurement unit (12) has: at least two electrodes (16) that draw a sample (20) near a gate insulating film (28) by means of dielectrophoresis force; and a field effect transistor (14) for measuring charges outputted from the sample (20) through the gate insulating film (28).
(FR) La présente invention concerne un appareil de mesure et un procédé de mesure qui permet d’obtenir une simplification supplémentaire. Un appareil de mesure (10A) pourvu d’une unité de mesure (12) pour mesurer des charges est caractérisé en ce que l’unité de mesure (12) comporte : au moins deux électrodes (16) qui aspirent un échantillon (20) à proximité d’un film d’isolation de grille (28) au moyen d’une force de diélectrophorèse ; et un transistor à effet de champ (14) pour mesurer les charges transmises par l’échantillon (20) à travers le film d’isolation de grille (28).
(JA) 電荷を計測する測定部(12)を備える測定装置(10A)において、前記測定部(12)は、誘電泳動力によりゲート絶縁膜(28)付近に試料(20)を引き寄せる少なくとも2つの電極(16)と、試料(20)から排出される電荷を、ゲート絶縁膜(28)を通じて計測する電界効果トランジスタ(14)とを有することを特徴とする、より簡素化することができる測定装置及び測定方法を提供する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)