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1. (WO2018025658) 撮像素子、駆動方法、および電子機器
国際事務局に記録されている最新の書誌情報    第三者情報を提供

国際公開番号: WO/2018/025658 国際出願番号: PCT/JP2017/026409
国際公開日: 08.02.2018 国際出願日: 21.07.2017
IPC:
H04N 5/378 (2011.01) ,H03M 1/56 (2006.01) ,H04N 5/363 (2011.01) ,H04N 5/374 (2011.01)
出願人: SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION[JP/JP]; 4-14-1, Asahi-cho, Atsugi-shi, Kanagawa 2430014, JP
発明者: OKAMOTO Ryuta; JP
UENO Yosuke; JP
TSUKUDA Yasunori; JP
代理人: NISHIKAWA Takashi; JP
INAMOTO Yoshio; JP
優先権情報:
2016-15366504.08.2016JP
発明の名称: (EN) IMAGE CAPTURE ELEMENT, DRIVE METHOD, AND ELECTRONIC DEVICE
(FR) ÉLÉMENT DE CAPTURE D'IMAGE, PROCÉDÉ DE COMMANDE ET DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE
(JA) 撮像素子、駆動方法、および電子機器
要約: front page image
(EN) The present disclosure relates to an image capture element, a drive method, and an electronic device with which an image can be captured at higher speed. The image capture element is provided with: a pixel array in which a plurality of pixels are arranged in a matrix; an AD conversion unit which performs parallel AD conversion on a pixel signal output from the pixels for each of pixel columns arranged in the pixel array; and a reference signal generation unit which generates a reference signal that has a waveform with a slope of a certain gradient and that the AD conversion unit references during pixel signal AD conversion with respect to the same pixel signal. When the AD conversion unit performs multi-sampling in which a P-phase period sampling and a D-phase period sampling are performed at least once with respect to the same pixel signal, the reference signal generation unit generates the reference signal in which, among a plurality of slopes in the D-phase period, the sampling period for a second slope is set shorter than the sampling period for a first slope. The present technology can be applied in a CMOS image sensor equipped with a column-parallel ADC, for example.
(FR) La présente invention concerne un élément de capture d'image, un procédé de commande et un dispositif électronique grâce auxquels une image peut être capturée à une vitesse plus élevée. L'élément de capture d'image comprend : un réseau de pixels dans lequel une pluralité de pixels sont disposés en matrice; une unité de conversion AD qui effectue une conversion AD parallèle sur une sortie de signal de pixel en provenance des pixels pour chacune des colonnes de pixels disposées dans la matrice de pixels; et une unité de génération de signal de référence qui génère un signal de référence possédant une forme d'onde avec une pente d'un certain gradient et que l'unité de conversion AD désigne pendant la conversion AD du signal de pixel par rapport au même signal de pixel. Lorsque l'unité de conversion AD effectue un multi-échantillonnage dans lequel un échantillonnage de période de phase P et un échantillonnage de période de phase D sont effectués au moins une fois par rapport au même signal de pixel, l'unité de génération de signal de référence génère le signal de référence dans lequel, parmi une pluralité de pentes dans la période de phase D, la période d'échantillonnage pour une seconde pente est réglée plus courte que la période d'échantillonnage pour une première pente. La présente technologie peut être appliquée dans un capteur d'image CMOS équipé d'un ADC parallèle de colonne par exemple.
(JA) 本開示は、より高速に撮像を行うことができるようにする撮像素子、駆動方法、および電子機器に関する。 撮像素子は、複数の画素が行列状に配置されている画素アレイと、画素アレイに配置されている画素の列ごとに、画素から出力される画素信号を並列的にAD変換するAD変換部と、AD変換部が、同一の画素信号に対して、画素信号をAD変換する際に参照する一定の勾配のスロープを有する波形の参照信号を生成する参照信号生成部とを備える。そして、AD変換部が、同一の画素信号に対して、P相期間のサンプリングとD相期間のサンプリングとを少なくとも1回以上行うマルチサンプリングを行う際に、参照信号生成部は、D相期間における複数のスロープのうち、第2のスロープのサンプリング期間が、第1のスロープのサンプリング期間よりも短く設定された参照信号を生成する。本技術は、例えば、列並列ADCを備えたCMOSイメージセンサに適用できる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)