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1. (WO2018025618) 物質構造の探索方法とそれに用いるX線構造解析システム

Pub. No.:    WO/2018/025618    International Application No.:    PCT/JP2017/025716
Publication Date: Fri Feb 09 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Sat Jul 15 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01N 23/205
Applicants: RIGAKU CORPORATION
株式会社リガク
Inventors: ITO Kazuki
伊藤 和輝
OZAWA Tetsuya
小澤 哲也
ITO Koichiro
伊藤 幸一郎
ASAI Shojiro
浅井 彰二郎
OMOTE Kazuhiko
表 和彦
Title: 物質構造の探索方法とそれに用いるX線構造解析システム
Abstract:
【課題】 専門知識がなくても、マルチスケール構造のX線構造解析を可能とする物質構造の探索方法とそれに用いるX線構造解析装置を提供する。 【解決手段】 物質構造の探索方法に用いるX線構造解析システムは、少なくとも、X線を発生するX線源と、前記X線源からのX線を測定すべき試料に照射するX線照射手段と、測定すべき試料により回折又は散乱されたX線を測定するためのX線検出手段と、前記X線検出手段により検出された測定すべき試料の回折又は散乱X線に基づいてX線画像の形質を含めたXRDS情報を生成する手段とを備えており、さらに、イメージ、分析法、物性によるによるデータベース、更には、それらのデータベースの相互の紐づけを含む相互関連情報データベースに対してアクセス可能な手段を備えている。