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1. (WO2018025389) 不良箇所検出器具及び不良箇所検出方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

国際公開番号: WO/2018/025389 国際出願番号: PCT/JP2016/073049
国際公開日: 08.02.2018 国際出願日: 05.08.2016
IPC:
G01N 21/84 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84
特殊な応用に特に適合したシステム
出願人:
エヌズエンタープライズ株式会社 N'S ENTERPRISE INCORPORATED [JP/JP]; 愛媛県西条市三津屋南12-18 12-18, Mitsuyaminami, Saijo-shi, Ehime 7991353, JP
株式会社ミツワ電気商会 MITSUWA ELECTRIC CO., LTD. [JP/JP]; 愛媛県西条市丹原町徳能甲75番地7 75-7, Ko, Tokuno, Tanbara-Cho, Saijo-Shi, Ehime 7910506, JP
株式会社三勢 SANSEI CO., LTD. [JP/JP]; 熊本県熊本市中央区帯山3丁目8-44 3-8-44, Obiyama, Chuo-ku, Kumamoto-shi, Kumamoto 8620924, JP
発明者:
能智栄司 NOCHI Eiji; JP
谷口美佳 TANIGUCHI Mika; JP
代理人:
小笠原宜紀 OGASAWARA Yoshinori; JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) DEFECTIVE POINT DETECTION INSTRUMENT AND DEFECTIVE POINT DETECTION METHOD
(FR) INSTRUMENT DE DÉTECTION DE POINT DÉFECTUEUX ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE POINT DÉFECTUEUX
(JA) 不良箇所検出器具及び不良箇所検出方法
要約:
(EN) Provided is a failure point detection instrument 1 that is suitable for finding failure areas of a surface of a subject CA to be detected, said failure areas having failures such as scratches and warping. The failure point detection instrument is provided with: a heat sink 2, which is lengthy in one direction, and which has a planar section 21 having a rectangular cross-section perpendicular to the lengthy direction; a first LED light source unit 3, which has, on a first surface, a first substrate 31 having a lighting circuit, a first LED 32 that is provided on the surface of the first substrate 31, and a first cover 33 that houses the first substrate 31 and the first LED 32; a sighting unit that linearly irradiates light at least in two parallel beams along the lengthy direction of the heat sink 2, said light having been emitted from the first LED light source unit 3; a power supply unit 51 that supplies power to the first LED light source unit 3; and a grip unit 5 extending in the lengthy direction of the heat sink 2.
(FR) La présente invention concerne un instrument de détection de point de défaut 1 qui est adapté pour trouver des zones de défaut d’une surface d’un sujet CA devant être détecté, lesdites zones de défaut comportant des défauts tels que des rayures et un gauchissement. L’instrument de détection de point de défaut est pourvu de : un dissipateur thermique 2, qui est long dans une direction, et qui comporte une section plane 21 ayant une section transversale rectangulaire perpendiculaire à la direction longitudinale ; une première unité de source de lumière à LED 3, qui comporte, sur une première surface, un premier substrat 31 comportant un circuit d’éclairage, une première LED 32 qui est disposée sur la surface du premier substrat 31, et un premier couvercle 33 qui contient le premier substrat 31 et la première LED 32 ; une unité de visée qui irradie linéairement de la lumière dans au moins deux faisceaux parallèles le long de la direction longitudinale du dissipateur thermique 2, ladite lumière ayant été émise depuis la première unité de source de lumière à LED 3; une unité d’alimentation 51 qui fournit de l’électricité à la première unité de source de lumière à LED 3 ; et une unité de préhension 5 s’étendant dans la direction longitudinale du dissipateur thermique 2.
(JA) 被検出体CAの表面の傷又は歪み等の不良箇所を発見するのに好適な不良箇所検出器具1を提供する。一方向に長尺で、長尺方向に垂直な断面が矩形状となる平板形状部21を有するヒートシンク2と、第一面に、点灯回路を有する第一基板31、第一基板31の表面に設けられた第一LED32、及び、第一基板31並びに第一LED32を収容する第一カバー33を有する第一LED光源部3と、第一LED光源部3からの光をヒートシンク2の長尺方向に沿って少なくとも二本の並列した直線状に照射する照準部と、第一LED光源部3に電力を供給する電源部51と、ヒートシンク2の長尺方向に延在するグリップ部5とを備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)