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1. (WO2018021210) 三次元表面粗度評価装置及び三次元表面粗度評価方法並びに三次元表面粗度データ取得装置及び三次元表面粗度データ取得方法

Pub. No.:    WO/2018/021210    International Application No.:    PCT/JP2017/026605
Publication Date: Fri Feb 02 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Tue Jul 25 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01B 11/30
Applicants: CHUGOKU MARINE PAINTS, LTD.
中国塗料株式会社
Inventors: MIENO Hirohisa
三重野 紘央
Title: 三次元表面粗度評価装置及び三次元表面粗度評価方法並びに三次元表面粗度データ取得装置及び三次元表面粗度データ取得方法
Abstract:
二次元レーザー変位計と、二次元レーザー変位計をX軸方向に移動させる移動機構と、二次元 レーザー変位計のX軸方向の移動距離を読み取る移動距離読取装置と、二次元レーザー変位計により取得された変位データと、移動距離読取装置により取得された移動距離データとに基づき、測定対象の三次元表面粗度データを生成する演算装置とを備える三次元表面粗度評価装置であって、二次元レーザー変位計は、一定間隔毎にY軸方向の座標の変位データを読み取り可能となるように、該二次元レーザー変位計の幅方向がY軸方向と一致するように配置され、二次元レーザー変位計の計測幅が、測定対象の要素の平均長さRSmの少なくとも2倍以上であり、演算装置は、二次元レーザー変位計によりX軸方向の一定間隔毎に取得された変位データを、Y軸方向に平均化して、各座標の基準面データを生成し、各X-Y平面座標の変位データから、各座標の基準面データを減算して、測定対象の三次元表面粗度データを生成するように構成する。