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1. (WO2018012464) 光学積層体

Pub. No.:    WO/2018/012464    International Application No.:    PCT/JP2017/025166
Publication Date: Fri Jan 19 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Tue Jul 11 01:59:59 CEST 2017
IPC: G02B 1/14
B32B 27/18
B32B 27/20
G02B 1/115
Applicants: DAI NIPPON PRINTING CO., LTD.
大日本印刷株式会社
DEXERIALS CORPORATION
デクセリアルズ株式会社
Inventors: HORIO, Tomoyuki
堀尾 智之
NAKASHIMA, Masataka
中島 正隆
NAKAMURA, Hiroshi
中村 啓志
NOMURA, Takahisa
野村 崇尚
SHINOHARA, Seiji
篠原 誠司
MATSUI, Kiyotaka
松井 清隆
OSHIMA, Kentaro
大嶋 研太郎
KUBOYAMA, Satoshi
久保山 聡
ONO, Yukihiro
小野 行弘
Title: 光学積層体
Abstract:
層間の密着性、特に屋外において使用された場合であっても、層間の密着性に優れ、耐ブロッキング性にも極めて優れる光学積層体を提供することを目的とする。 本発明は、基材フィルムの少なくとも一方の面上にシリカ微粒子を含むハードコート層を有し、上記ハードコート層の上記基材フィルム側と反対側面上にドライフィルム層を有する光学積層体であって、上記ハードコート層の上記ドライフィルム層側表面から上記シリカ微粒子が露出しており、上記ドライフィルム層は、上記シリカ微粒子が露出した上記ハードコート層表面に直接積層されており、上記ドライフィルム層を設ける前のハードコート層の上記ドライフィルム層が設けられる側の表面に凹凸形状が形成されており、上記ハードコート層の厚み方向の断面において、上記ドライフィルム側界面から厚み方向に厚さの10%までの範囲内で0.2μm×0.2μmの領域を任意に10カ所選択し、上記10カ所の領域における上記シリカ微粒子の存在比の平均値が30~80%であり、かつ、上記10カ所の領域における上記シリカ微粒子の存在比の標準偏差が1~7であり、X線光電子分光分析により測定した上記ハードコート層の上記基材フィルム側と反対側表面におけるケイ素原子の存在率Aが2~10%であることを特徴とする光学積層体である。