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1. (WO2018012214) 半導体センサチップ、半導体センサチップアレイ、および超音波診断装置
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国際公開番号: WO/2018/012214 国際出願番号: PCT/JP2017/022614
国際公開日: 18.01.2018 国際出願日: 20.06.2017
IPC:
A61B 8/00 (2006.01) ,H01L 27/04 (2006.01) ,H04R 1/06 (2006.01)
A 生活必需品
61
医学または獣医学;衛生学
B
診断;手術;個人識別
8
超音波,音波または亜音波を用いることによる診断
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
27
1つの共通基板内または上に形成された複数の半導体構成部品または他の固体構成部品からなる装置
02
整流,発振,増幅またはスイッチングに特に適用される半導体構成部品を含むものであり,少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有するもの;少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有する集積化された受動回路素子を含むもの
04
基板が半導体本体であるもの
H 電気
04
電気通信技術
R
スピーカ,マイクロホン,蓄音機ピックアップまたは類似の音響電気機械変換器;補聴器;パブリックアドレスシステム
1
変換器の細部
06
回路導線の配線;回路導線の張力緩和
出願人:
株式会社日立製作所 HITACHI, LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目6番6号 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280, JP
発明者:
吉村 保廣 YOSHIMURA Yasuhiro; JP
佐光 暁史 SAKO Akifumi; JP
山下 尚昭 YAMASHITA Naoaki; JP
永田 達也 NAGATA Tatsuya; JP
代理人:
特許業務法人磯野国際特許商標事務所 ISONO INTERNATIONAL PATENT OFFICE, P.C.; 東京都港区虎ノ門一丁目1番18号 ヒューリック虎ノ門ビル Hulic Toranomon Building, 1-18, Toranomon 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1050001, JP
優先権情報:
2016-13904814.07.2016JP
発明の名称: (EN) SEMICONDUCTOR SENSOR CHIP, SEMICONDUCTOR SENSOR CHIP ARRAY, AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC EQUIPMENT
(FR) PUCE DE CAPTEUR À SEMI-CONDUCTEUR, RÉSEAU DE PUCES DE CAPTEUR À SEMI-CONDUCTEUR ET ÉQUIPEMENT DE DIAGNOSTIC À ULTRASONS
(JA) 半導体センサチップ、半導体センサチップアレイ、および超音波診断装置
要約:
(EN) The present invention addresses the problem of enlarging a sensing area in an ultrasonic probe so as to achieve a higher definition. This ultrasonic diagnostic equipment is provided with an ultrasonic probe that comprises: a CMUT chip (2a) that has drive electrodes (3e)-(3j), etc., arranged in a grid-like configuration on a rectangular CMUT element section (21); and a CMUT chip (2b) that has drive electrodes (3p)-(3u), etc., arranged in a grid-like configuration on the rectangular CMUT element section (21), that is adjacent to the CMUT chip (2a), and in which the drive electrodes (3e)-(3j) of the adjacent CMUT chip (2a) are electrically connected to the respective drive electrodes (3p)-(3u) via bonding wires (4f)-(4i), etc.
(FR) La présente invention traite le problème de l'agrandissement d'une zone de détection dans une sonde à ultrasons de manière à obtenir une définition plus élevée. Cet équipement de diagnostic à ultrasons est pourvu d'une sonde à ultrasons qui comprend : une puce CMUT (2a) qui a des électrodes de commande (3e)-(3j), etc., agencées selon une configuration en forme de grille sur une section rectangulaire d'élément CMUT (21) ; et une puce CMUT (2b) qui a des électrodes de commande (3p)-(3u), etc., disposées selon une configuration en forme de grille sur la section rectangulaire d'élément CMUT (21), qui est adjacente à la puce CMUT (2a), et dans laquelle les électrodes de commande (3e)-(3j) de la puce CMUT adjacente (2a) sont électriquement connectées aux électrodes de commande respectives (3p)-(3u) par l'intermédiaire de fils de liaison (4f)-(4i), etc.
(JA) 超音波探触子のセンシング面積を大きくして高精細化することを課題とする。超音波診断装置は、駆動電極(3e)~(3j)などが矩形状のCMUT素子部(21)にグリッド状に配列されたCMUTチップ(2a)と、駆動電極(3p)~(3u)などが矩形状のCMUT素子部(21)にグリッド状に配列され、CMUTチップ(2a)に隣接し、かつ駆動電極(3p)~(3u)に隣接するCMUTチップ(2a)の駆動電極(3e)~(3j)との間がそれぞれボンディングワイヤ(4f)~(4i)などで電気的に接続されたCMUTチップ(2b)とを含んで構成される超音波探触子を備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)