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1. (WO2018005940) PIXELATED GAMMA DETECTOR
国際事務局に記録されている最新の書誌情報第三者情報を提供

国際公開番号: WO/2018/005940 国際出願番号: PCT/US2017/040232
国際公開日: 04.01.2018 国際出願日: 30.06.2017
IPC:
G01T 1/20 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
T
原子核放射線またはX線の測定
1
X線,ガンマ線,微粒子線または宇宙線の測定
16
放射線強度の測定
20
シンチレーション検出器をもつもの
出願人:
GENERAL ELECTRIC COMPANY [US/US]; 1 River Road Schenectady, NY 12345, US
発明者:
DOLINSKY, Sergei, Ivanovich; US
YANOFF, Brian, David; US
GUIDA, Renato; US
IVAN, Adrian; US
代理人:
POLLANDER, Laura, L.; US
MIDGLEY, Stephen, G.; US
DIMAURO, Peter, T.; US
WINTER, Catherine, J.; US
GNIBUS, Michael, M.; US
優先権情報:
15/198,50230.06.2016US
発明の名称: (EN) PIXELATED GAMMA DETECTOR
(FR) DÉTECTEUR GAMMA PIXELISÉ
要約:
(EN) A pixelated gamma detector includes a scintillator column assembly (140) having scintillator crystals (120) and optical transparent elements (125) alternating along a longitudinal axis, a collimator assembly (110) having longitudinal walls separated by collimator septum (114), the collimator septum (114) spaced apart to form collimator channels (118), the scintillator column assembly (140) positioned adjacent to the collimator assembly (110) so that the respective ones of the scintillator crystal (120) are positioned adjacent to respective ones of the collimator channels (118), the respective ones of the optical transparent element (125) are positioned adjacent to respective ones of the collimator septum (114), and a first photosensor (150) and a second photosensor (155), the first and the second photosensor each connected to an opposing end of the scintillator column assembly (140). A system and a method for inspecting and/or detecting defects in an interior of an object are also disclosed.
(FR) La présente invention concerne un détecteur gamma pixelisé qui comprend un ensemble de colonnes de scintillateur (140) ayant des cristaux de scintillateur (120) et des éléments transparents optiques (125) alternant le long d'un axe longitudinal, un ensemble de collimateur (110) ayant des parois longitudinales séparées par un septum de collimateur (114), le septum de collimateur (114) étant espacé pour former des canaux de collimateur (118), l'ensemble de colonnes de scintillateur (140) étant en position adjacente à l'ensemble de collimateur (110) de sorte que les canaux respectifs du cristal de scintillateur (120) soient en position adjacente aux canaux respectifs des canaux de collimateur (118), les canaux respectifs de l'élément transparent optique (125) sont en position adjacente aux canaux respectifs du septum de collimateur (114), et un premier photocapteur (150) et un deuxième photocapteur (155), le premier et le deuxième photocapteur étant chacun connectés à une extrémité opposée de l'ensemble de colonnes de scintillateur (140). L'invention concerne en outre un système et un procédé d'inspection et/ou de détection de défauts à l'intérieur d'un objet.
front page image
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 英語 (EN)
国際出願言語: 英語 (EN)
また、:
CN109313277KR1020190022862EP3479146