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1. WO2017163778 - マーカ

公開番号 WO/2017/163778
公開日 28.09.2017
国際出願番号 PCT/JP2017/007601
国際出願日 28.02.2017
IPC
G01B 11/00 2006.01
G物理学
01測定;試験
B長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
G01B 11/26 2006.01
G物理学
01測定;試験
B長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
26角度またはテーパ測定用;軸の心合せ試験用
G02B 3/00 2006.01
G物理学
02光学
B光学要素,光学系,または光学装置
3単レンズまたは複合レンズ
G03B 35/00 2006.01
G物理学
03写真;映画;光波以外の波を使用する類似技術;電子写真;ホログラフイ
B写真を撮影するためのまたは写真を投影もしくは直視するための装置または配置;光波以外の波を用いる類似技術を用いる装置または配置;そのための付属品
35立体写真
CPC
G01B 11/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
G01B 11/26
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
26for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
G02B 27/18
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
27Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
18for optical projection, e.g. combination of mirror and condenser and objective
G02B 3/005
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
3Simple or compound lenses
0006Arrays
0037characterized by the distribution or form of lenses
005arranged along a single direction only, e.g. lenticular sheets
G02B 3/06
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
3Simple or compound lenses
02with non-spherical faces
06with cylindrical or toric faces
G03B 35/00
GPHYSICS
03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
35Stereoscopic photography
出願人
  • 株式会社エンプラス ENPLAS CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 齊藤 共啓 SAITO, Tomohiro
代理人
  • 鷲田 公一 WASHIDA, Kimihito
優先権情報
2016-05854623.03.2016JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) MARKER
(FR) MARQUEUR
(JA) マーカ
要約
(EN)
A marker according to the present invention is formed of a translucent material, and comprises at least: a plurality of protruding surfaces arranged in a first direction; and a plurality of portions to be detected which are arranged at positions on the reverse side to the plurality of protruding surfaces and which are projected, as optically detectable images, onto the plurality of protruding surfaces. Each of the cross-sectional shapes of the plurality of protruding surfaces in a cross section in the height direction of the marker along the first direction is a curved line having a curvature radius which increases with increase in a distance from the vertex of the curved line.
(FR)
Selon la présente invention, un marqueur est formé d'un matériau translucide, et comprend au moins : une pluralité de surfaces saillantes agencées dans une première direction ; et une pluralité de parties à détecter qui sont agencées à des positions sur le côté opposé à la pluralité de surfaces saillantes et qui sont projetées, sous forme d'images optiquement détectables, sur la pluralité de surfaces saillantes. Chacune des formes de section transversale de la pluralité de surfaces saillantes dans une section transversale dans la direction de la hauteur du marqueur le long de la première direction est une ligne incurvée présentant un rayon de courbure qui augmente avec une augmentation d'une distance par rapport au sommet de la ligne incurvée.
(JA)
本発明のマーカは、透光性を有する材料で形成されたマーカであって、少なくとも第1の方向に沿って配置された複数の凸面と、前記複数の凸面と表裏の位置に配置され、光学的に検出可能な像として前記複数の凸面に投影される複数の被検出部と、を有し、前記第1の方向に沿う前記マーカの高さ方向の断面における、前記複数の凸面のそれぞれの断面形状は、その頂点から離れるにつれて曲率半径が大きくなる曲線である。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報