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1. WO2017086325 - 観測方法および観測装置

公開番号 WO/2017/086325
公開日 26.05.2017
国際出願番号 PCT/JP2016/083867
国際出願日 15.11.2016
予備審査請求日 08.05.2017
IPC
G01N 27/72 2006.1
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
72磁気変量の調査によるもの
G01R 27/02 2006.1
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
27抵抗,リアクタンス,インピーダンスまたはそれらから派生する電気的特性を測定する装置
02実数または複素抵抗,リアクタンス,インピーダンス,またはそれらから誘導される二端子特性,例.時定数,を測定するもの
G01R 33/10 2006.1
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
33磁気的変量を測定する計器または装置
02磁界または磁束の方向または大きさの測定
10磁界分布をプロットするもの
CPC
G01N 27/72
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
27Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
72by investigating magnetic variables
G01Q 30/04
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
30Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices
04Display or data processing devices
G01R 27/02
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
27Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
G01R 33/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
G01R 33/022
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
022Measuring gradient
G01R 33/093
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
06using galvano-magnetic devices, e.g. Hall effect devices; using magneto-resistive devices
09Magnetoresistive devices
093using multilayer structures, e.g. giant magnetoresistance sensors
出願人
  • 国立大学法人神戸大学 NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION KOBE UNIVERSITY [JP]/[JP]
  • 株式会社Integral Geometry Science INTEGRAL GEOMETRY SCIENCE INC. [JP]/[JP]
発明者
  • 木村 建次郎 KIMURA Kenjiro
  • 木村 憲明 KIMURA Noriaki
代理人
  • 速水 進治 HAYAMI Shinji
優先権情報
2015-22432116.11.2015JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION DEVICE
(FR) PROCÉDÉ D'OBSERVATION ET DISPOSITIF D'OBSERVATION
(JA) 観測方法および観測装置
要約
(EN) An observation device (1) is provided with an application unit, a detection unit, and a calculation unit. The application unit applies to an object (10) a first magnetic field generated by distributing a pulse electric current to a coil (22) or by distributing a plurality of frequencies of electric currents to the coil (22) in sequence. The detection unit detects a second magnetic field generated by application of the first magnetic field to the object (10). The calculation unit then calculates a distribution of magnetic field sources m in the second magnetic field. The calculation unit may furthermore generate an imaging signal for displaying an image of the calculated distribution of magnetic field sources m. A display unit (32) displays an image indicating the distribution of magnetic field sources m using the imaging signal.
(FR) L'invention concerne un dispositif d'observation (1) qui comporte une unité d'application, une unité de détection, et une unité de calcul. L'unité d'application applique à un objet (10) un premier champ magnétique généré par la distribution d'un courant électrique par impulsions à une bobine (22) ou par la distribution d'une pluralité de fréquences de courants électriques à la bobine (22) en séquence. L'unité de détection détecte un deuxième champ magnétique généré par l'application du premier champ magnétique à l'objet (10). L'unité de calcul calcule alors une distribution de sources de champ magnétique (m) dans le deuxième champ magnétique. L'unité de calcul peut en outre générer un signal d'image pour l'affichage d'une image de la distribution calculée de sources de champ magnétique (m). Une unité d'affichage (32) affiche une image indiquant la distribution de sources de champ magnétique (m) au moyen du signal d'image.
(JA) 測定装置(1)は、印加部、検出部および算出部を備える。印加部は、コイル(22)にパルス電流を流す、または、コイル(22)に複数の周波数の電流を順に流すことにより発生する第1の磁場を、対象物(10)に印加する。検出部は、対象物(10)に第1の磁場を加えたことによって発生する第2の磁場を、検出する。そして算出部は、第2の磁場における磁場の湧き出しmの分布を算出する。算出部はさらに、算出した磁場の湧き出しmの分布を画像表示するための画像化信号を生成してもよい。表示部(32)は画像化信号を用いて磁場の湧き出しmの分布を示す画像を表示する。
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