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1. (WO2017042918) イオン移動度分析装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2017/042918    国際出願番号:    PCT/JP2015/075643
国際公開日: 16.03.2017 国際出願日: 09.09.2015
IPC:
G01N 27/62 (2006.01)
出願人: SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511 (JP)
発明者: YASUNO, Motohide; (JP).
IMAZU, Akiko; (JP)
代理人: KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE; Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091 (JP)
優先権情報:
発明の名称: (EN) ION MOBILITY ANALYSIS DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE DE LA MOBILITÉ IONIQUE
(JA) イオン移動度分析装置
要約: front page image
(EN)According to the present invention, a first shutter gate (3) is disposed at the entrance of a drift region (5), and a second shutter gate (4) is disposed downstream in the ion drift direction. In a high resolution measurement mode, a control unit (9) controls voltage generating units (7, 8) such that the second shutter gate (4) is constantly opened and that ions are pulsed at the first shutter gate (3). In a high sampling rate measurement mode, the control unit (9) controls the voltage generating unit (7, 8) such that the first shutter gate (3) is constantly opened and that ions are pulsed at the second shutter gate (4). In addition, in a zoom measurement mode for measuring ions in a particular ion mobility range with high resolution, the control unit (9) controls the voltage generating unit (7, 8) such that the second shutter gate (4) is opened for a short period of time when a predetermined period of time elapses after the first shutter gate (3) is opened for a short period of time. By selecting these three modes, ion mobility measurement can be performed at a resolution or a sampling rate suitable for the purpose.
(FR)Selon la présente invention, une première grille d'obturateur (3) est disposée à l'entrée d'une région de dérive (5), et une seconde grille d'obturateur (4) est disposée en aval dans le sens de la dérive ionique. En mode Mesure à haute résolution, une unité de commande (9) commande des unités de génération de tension (7, 8) de façon que la seconde grille d'obturateur (4) soit constamment ouverte et que les ions soient pulsés à la première grille d'obturateur (3). En mode Mesure de vitesse d'échantillonnage élevée, l'unité de commande (9) commande les unités de génération de tension (7, 8) de façon que la première grille d'obturateur (3) soit constamment ouverte et que les ions soient pulsés à la seconde grille d'obturateur (4). De plus, en mode mesure Zoom qui sert à mesurer les ions dans une plage de mobilité ionique particulière à une résolution élevée, l'unité de commande (9) commande les unités de génération de tension (7, 8) de façon que la seconde grille d'obturateur (4) soit ouverte pendant un court laps de temps quand un laps de temps prédéfini s'écoule après que la première grille d'obturateur (3) est ouverte pendant un cour laps de temps. En sélectionnant ces trois modes, la mesure de la mobilité ionique peut être effectuée à une résolution ou à une vitesse d'échantillonnage appropriée à la mesure.
(JA)ドリフト領域(5)の入口に第1シャッタゲート(3)を設置し、そのイオンのドリフト方向の下流に第2シャッタゲート(4)を設置する。高分解能測定モード時に制御部(9)は、第2シャッタゲート(4)を常時開放し、第1シャッタゲート(3)でイオンをパルス化するように電圧発生部(7,8)を制御する。高サンプリングレート測定モード時に制御部(9)は、第1シャッタゲート(3)を常時開放し、第2シャッタゲート(4)でイオンをパルス化するように電圧発生部(7,8)を制御する。さらに特定のイオン移動度範囲のイオンを高分解能で測定するズーム測定モード時に制御部(9)は、第1シャッタゲート(3)を短時間開放してから所定時間経過後に第2シャッタゲート(4)を短時間開放するように電圧発生部(7,8)を制御する。こうした三つのモードの選択によって、目的に応じた分解能やサンプリングレートでのイオン移動度測定が行える。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)