WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | Français | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

国際・国内特許データベース検索
World Intellectual Property Organization
検索
 
閲覧
 
翻訳
 
オプション
 
最新情報
 
ログイン
 
ヘルプ
 
自動翻訳
1. (WO2017038702) 蛍光X線分析装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2017/038702    国際出願番号:    PCT/JP2016/075034
国際公開日: 09.03.2017 国際出願日: 26.08.2016
IPC:
G01N 23/223 (2006.01), G01N 23/207 (2006.01)
出願人: RIGAKU CORPORATION [JP/JP]; 9-12, Matsubara-cho 3-chome, Akishima-shi, Tokyo 1968666 (JP)
発明者: HARA, Shinya; (JP).
MATSUO, Takashi; (JP).
YAMADA, Yasujiro; (JP).
HONMA, Hisashi; (JP).
KATAOKA, Yoshiyuki; (JP)
代理人: SUGIMOTO, Shuji; (JP).
NODA, Masashi; (JP).
TSUTSUMI, Takeo; (JP)
優先権情報:
2015-169543 28.08.2015 JP
発明の名称: (EN) X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER
(FR) ANALYSEUR PAR FLUORESCENCE DE RAYONS X
(JA) 蛍光X線分析装置
要約: front page image
(EN)A quantitative analysis condition setting means (13) provided in a scanning-type X-ray fluorescence spectrometer according to the present invention subjects a plurality of reference specimens (14) to qualitative analysis, and on the basis of the results thereof, sets a peak measurement angle for a measurement line of a specimen (1) to be analyzed under quantitative analysis conditions, obtains a single virtual profile by synthesizing the peak profile from the plurality of reference specimens (14) subjected to the qualitative analysis, and on the basis of the half-value width of a pre-set peak profile and the virtual profile, sets a background measurement angle for the measurement line of the specimen (1) to be analyzed under the quantitative analysis conditions.
(FR)Un moyen de réglage (13) de conditions d'analyse quantitative, prévu dans l'analyseur par fluorescence de rayons X du type à balayage selon la présente invention, soumet une pluralité d'échantillons de référence (14) à une analyse qualitative et, sur la base des résultats de celle-ci, règle un angle de mesure de pic pour une ligne de mesure d'un échantillon (1) à analyser dans des conditions d'analyse quantitative, obtient un profil virtuel unique par la synthèse du profil de pic provenant de la pluralité des échantillons de référence (14) soumis à l'analyse qualitative, et, sur la base de la largeur à mi-hauteur d'un profil de pic préétabli et du profil virtuel, règle un angle de mesure d'arrière-plan pour la ligne de mesure de l'échantillon (1) à analyser dans les conditions d'analyse quantitative.
(JA)本発明の走査型の蛍光X線分析装置が備える定量分析条件設定手段(13)は、複数の標準試料(14)について定性分析を行い、その結果に基づいて、定量分析条件において分析対象試料(1)における測定線のピーク測定角度を設定するとともに、定性分析された複数の標準試料(14)のピークプロファイルを合成して単一の仮想プロファイルを求め、仮想プロファイルおよびあらかじめ設定されたピークプロファイルの半値幅に基づいて、定量分析条件において分析対象試料(1)における測定線のバックグラウンド測定角度を設定する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)