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1. (WO2017038511) ナノ粒子のスクリーニング方法及びスクリーニングシステム、並びに、ナノ粒子及びその製造方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2017/038511    国際出願番号:    PCT/JP2016/074273
国際公開日: 09.03.2017 国際出願日: 19.08.2016
IPC:
G01N 21/64 (2006.01), B82Y 20/00 (2011.01), B82Y 35/00 (2011.01), G01N 21/27 (2006.01)
出願人: NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY [JP/JP]; 3-1, Kasumigaseki 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008921 (JP).
NS MATERIALS INC. [JP/JP]; 511-1 Ryumyouji, Chikushino-city, Fukuoka 8180042 (JP)
発明者: NAKAMURA, Hiroyuki; (JP).
SAEKI, Maki; (JP).
TANAKA, Masanori; (JP).
KANAUMI, Eiichi; (JP)
代理人: AOKI, Hiroyoshi; (JP).
AMADA, Masayuki; (JP).
KIMURA, Nobuaki; (JP).
MIWA, Masayoshi; (JP)
優先権情報:
2015-169736 28.08.2015 JP
2015-169739 28.08.2015 JP
発明の名称: (EN) NANOPARTICLE SCREENING METHOD AND SCREENING SYSTEM, AND NANOPARTICLES AND PRODUCTION METHOD THEREFOR
(FR) PROCÉDÉ DE CRIBLAGE ET SYSTÈME DE CRIBLAGE DE NANOPARTICULES, ET NANOPARTICULES ET LEUR PROCÉDÉ DE PRODUCTION
(JA) ナノ粒子のスクリーニング方法及びスクリーニングシステム、並びに、ナノ粒子及びその製造方法
要約: front page image
(EN)Provided are a nanoparticle screening method and screening system, with which surface modification conditions of nanoparticles can be efficiently explored, and the time, labour, and sample amount required for surface modification are reduced further than conventionally possible. This nanoparticle screening method is characterized by being provided with: a step in which a nanoparticle suspension is dispensed into each of a plurality of accommodation portions provided in an accommodation container; a step in which surface modification processing of the nanoparticles is performed under separate conditions for each accommodation portion; a step in which a dispersion medium is added into each of the accommodation portions, and evaluation samples obtained by mixing the nanoparticles and the dispersion medium are generated; and a step in which optical analysis is used to evaluate the evaluation samples in the respective accommodation portions.
(FR)La présente invention concerne un procédé de criblage et un système de criblage de nanoparticules, permettant d'explorer efficacement des conditions de modification de surface de nanoparticules, et de réduire, davantage qu'avec les procédé et système classiques, la durée, la main-d'œuvre et la quantité d'échantillon nécessaires pour la modification de surface. Ce procédé de criblage de nanoparticules est caractérisé en ce qu'il comprend : une étape dans laquelle une suspension de nanoparticules est distribuée dans chacune d'une pluralité de parties de logement disposées dans un récipient de logement; une étape dans laquelle un traitement de modification de surface des nanoparticules est mis en œuvre dans des conditions distinctes pour chaque partie de logement; une étape dans laquelle un milieu de dispersion est ajouté dans chacune des parties de logement, et des échantillons d'évaluation obtenus en mélangeant les nanoparticules et le milieu de dispersion sont générés; et une étape dans laquelle une analyse optique est utilisée pour évaluer les échantillons d'évaluation dans les parties de logement respectives.
(JA)特に、ナノ粒子の表面改質条件を効率的に探索でき、表面改質に必要な時間と労力とサンプル量を従来よりも低減した、ナノ粒子のスクリーニング方法及びスクリーニングシステムを提供する。本発明のナノ粒子のスクリーニング方法は、収容容器に設けられた複数の収容部の夫々に、ナノ粒子懸濁液を小分けするステップと、ナノ粒子の表面改質処理を、前記収容部ごとに別条件にて行うステップと、各収容部内に分散媒を加えて、前記ナノ粒子と前記分散媒とを混合した評価サンプルを生成するステップと、各収容部の前記評価サンプルに対して、光学分析により評価を行うステップと、を有することを特徴とする。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)