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1. (WO2017038302) X線発生装置及び方法、並びに試料測定システム
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2017/038302    国際出願番号:    PCT/JP2016/071811
国際公開日: 09.03.2017 国際出願日: 26.07.2016
IPC:
H01J 35/26 (2006.01), H01J 35/06 (2006.01), H01J 35/10 (2006.01)
出願人: BRUKER JAPAN K.K. [JP/JP]; 3-9, Moriya-cho, Kanagawa-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2210022 (JP)
発明者: KAWASAKI Katsumi; (JP).
CHIBA Hiroshi; (JP).
KATAYAMA Chuji; (JP)
代理人: EINSEL Felix-Reinhard; (JP).
MAEKAWA Junichi; (JP).
NINOMIYA Hiroyasu; (JP).
UESHIMA Rui; (JP)
優先権情報:
2015-170101 31.08.2015 JP
2015-214418 30.10.2015 JP
発明の名称: (EN) X-RAY GENERATION DEVICE AND METHOD, AND SAMPLE MEASUREMENT SYSTEM
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE GÉNÉRATION DE RAYONS X, ET SYSTÈME DE MESURE D'ÉCHANTILLON
(JA) X線発生装置及び方法、並びに試料測定システム
要約: front page image
(EN)Provided are: a method and a device for generating x-rays, the x-ray generation device having an extremely simple device configuration and capable of selectively generating x-ray beams in point form or in line form; and a sample measurement system. The x-ray generation device (10) comprises an electron generator (24) and a rotating anticathode (26) which are disposed and fixed under such a positional relationship that an electron source (32) and a peripheral surface portion (38) face one another while a rotation axis (36) is inclined with respect to a first direction (Z direction) and a second direction (X direction).
(FR)L'invention concerne : un procédé et un dispositif permettant de générer des rayons x, le dispositif de génération de rayons x ayant une configuration de dispositif extrêmement simple et étant capable de générer sélectivement des faisceaux de rayons x en forme de point ou en forme de ligne; et un système de mesure d'échantillon. Le dispositif de génération de rayons x (10) comprend un générateur d'électrons (24) et une anticathode tournante (26) qui sont disposés et fixés suivant une relation de position telle qu'une source d'électrons (32) et une partie de surface périphérique (38) se font face tandis qu'un axe de rotation (36) est incliné par rapport à une première direction (direction Z) et une seconde direction (direction X).
(JA)きわめて簡単な装置構成でありながら点状又は線状のX線ビームを選択的に発生可能なX線発生装置及び方法、並びに試料測定システムを提供する。 X線発生装置(10)が備える電子発生器(24)及び回転対陰極(26)は、電子源(32)及び周面部(38)が互いに対向すると共に、回転軸(36)が第1方向(Z方向)及び第2方向(X方向)に対して傾斜する位置関係下に固定配置される。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)