国際・国内特許データベース検索

1. (WO2017037768) 評価システム、評価方法およびデータ解析システム

Pub. No.:    WO/2017/037768    International Application No.:    PCT/JP2015/074319
Publication Date: Fri Mar 10 00:59:59 CET 2017 International Filing Date: Sat Aug 29 01:59:59 CEST 2015
IPC: G06Q 10/00
G06Q 50/10
Applicants: HITACHI, LTD.
株式会社日立製作所
Inventors: MORIWAKI Norihiko
森脇 紀彦
AKITOMI Tomoaki
秋富 知明
HIRAYAMA Junichi
平山 淳一
YANO Kazuo
矢野 和男
MINE Ryuji
嶺 竜治
KUDO Fumiya
工藤 文也
MIYAMOTO Atsushi
宮本 篤志
Title: 評価システム、評価方法およびデータ解析システム
Abstract:
データ解析システムの導入効果を表示する評価システムを、業務データおよび業務データ内の複数の変数のうちどの変数を目的変数とするかの指定を受け付ける受付部と、目的変数に関する時系列データの所定の期間における振れ幅を求める統計値計算部と、振れ幅が所定の振れ幅閾値より大きい場合に、所定の期間内の目的変数、および、目的変数と相関のある業務データ内の変数である説明変数を基に回帰式を作成する回帰式作成部と、回帰式を表示装置に表示する表示部、という構成にする。係る構成により、データ解析システムの導入前に、目的変数が上昇する可能性及び施策の実施できる可能性を確認することがより容易になる。