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1. (WO2017033648) 自動分析装置及び自動分析システム

Pub. No.:    WO/2017/033648    International Application No.:    PCT/JP2016/071665
Publication Date: Fri Mar 03 00:59:59 CET 2017 International Filing Date: Tue Jul 26 01:59:59 CEST 2016
IPC: G01N 35/00
Applicants: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION
株式会社 日立ハイテクノロジーズ
Inventors: SASAKI Shunsuke
佐々木 俊輔
IMAI Kenta
今井 健太
SUZUKI Toshiharu
鈴木 寿治
SAKAMOTO Katsuhiko
坂本 和彦
Title: 自動分析装置及び自動分析システム
Abstract:
本発明は、検査に要するコストを最低限にし、電源立ち上げ後、迅速に測定を開始可能な自動分析装置を実現することを目的とする。解決手段は、サンプルと試薬を反応させて当該反応の結果に基づいて前記サンプルの分析を行う分析動作部を備えた自動分析装置において、分析動作部を構成する複数のユニットと、ユニットを加熱または冷却する温度調整機構と、ユニットの温度を測定する温度センサと、温度調整機構を制御する制御部とを備え、制御部は、前記ユニットの動作仕様の温度範囲である測定開始可能温度範囲と、前記測定開始可能温度範囲より広い温度範囲である運転可能温度範囲とを設定し、前記ユニットの温度が当該ユニットの運転可能温度範囲内に入った場合に、前記サンプルの分析処理を開始することによりなる。