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1. (WO2017033641) 自動分析装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2017/033641 国際出願番号: PCT/JP2016/071656
国際公開日: 02.03.2017 国際出願日: 25.07.2016
IPC:
G01N 35/02 (2006.01) ,G01N 21/77 (2006.01) ,G01N 21/82 (2006.01) ,G01N 35/04 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
35
グループ1/00から33/00のいずれか1つに分類される方法または材料に限定されない自動分析;そのための材料の取扱い
02
1以上の処理位置または分析位置へコンベア系によって移動させられる多数の試料容器を用いるもの
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
75
材料が化学反応を受け,その反応の進行または結果が調査されるシステム
77
化学指示薬に対する効果を観察することによるもの
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
75
材料が化学反応を受け,その反応の進行または結果が調査されるシステム
77
化学指示薬に対する効果を観察することによるもの
82
沈殿物または混濁の生成
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
35
グループ1/00から33/00のいずれか1つに分類される方法または材料に限定されない自動分析;そのための材料の取扱い
02
1以上の処理位置または分析位置へコンベア系によって移動させられる多数の試料容器を用いるもの
04
コンベア系の細部
出願人:
株式会社 日立ハイテクノロジーズ HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西新橋一丁目24番14号 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717, JP
発明者:
小西 励 KONISHI Rei; JP
牧野 彰久 MAKINO Akihisa; JP
代理人:
戸田 裕二 TODA Yuji; JP
優先権情報:
2015-16735527.08.2015JP
発明の名称: (EN) AUTOMATED ANALYZER
(FR) ANALYSEUR AUTOMATISÉ
(JA) 自動分析装置
要約:
(EN) An automated analyzer makes light from a light source incident on a liquid mixture consisting of a sample and a reagent in a reactor vessel and, by ascertaining with a photodetector the quantity of light transmitted or scattered and the change in the wavelength, performs quantitative and qualitative analysis of an object component. When light other than from the light source such as light from outside is incident on the photodetector, since it is no longer possible to accurately measure the quantity of light and the change in the wavelength, it is also no longer possible to accurately measure the analysis of the object component. In particular, in the constitution of an analysis unit provided with a plurality of analysis ports, during analysis at one analysis port, due to various mechanisms accessing other analysis ports, disturbance light such as light reflected on this mechanism would enter the analysis port under analysis and sometimes have an effect on the measurement result. The present invention provides an automated analyzer that, by means of a first light shielding mechanism and a second light shielding mechanism having an opening part in an analysis unit provided with a plurality of analysis ports, does not allow disturbance light to be incident on the analysis port under analysis so that each mechanism is capable of accessing any analysis port.
(FR) Cette invention porte sur un analyseur automatisé qui rend la lumière émanant d'une source de lumière incidente sur un mélange liquide constitué d'un échantillon et d'un réactif dans une cuve de réacteur et qui, par détermination à l'aide d'un photodétecteur de la quantité de lumière transmise ou diffusée et par modification de la longueur d'onde, procède à une analyse quantitative et qualitative d'un composant à analyser. Le problème abordé par la présente invention est celui selon lequel quand une lumière autre que celle émanant de la source de lumière telle qu'une lumière provenant de l'extérieur est incidente sur le photodétecteur, comme il n'est plus possible de mesurer avec précision la quantité de lumière et le changement de longueur d'onde, il n'est plus possible non plus de mesurer avec précision l'analyse du composant à analyser. En particulier, dans la construction d'une unité d'analyse pourvue d'une pluralité d'orifices d'analyse, pendant l'analyse sur un orifice d'analyse, compte tenu des divers mécanismes d'accès aux autres orifices d'analyse, une lumière perturbatrice, telle qu'une lumière réfléchie sur le mécanisme pourrait pénétrer dans l'orifice d'analyse en cours d'analyse et parfois avoir un effet sur le résultat de la mesure. La solution selon l'invention porte sur un analyseur automatisé qui, par le biais d'un premier mécanisme de protection contre la lumière et d'un second mécanisme de protection contre la lumière comportant une partie ouverture dans une unité d'analyse pourvue d'une pluralité d'orifices d'analyse, ne permet pas à une lumière perturbatrice d'être incidente sur l'orifice d'analyse en cours d'analyse de sorte chaque mécanisme est capable d'accéder à un orifice d'analyse quelconque.
(JA) 自動分析装置は、反応容器中の試料と試薬の混合液に光源からの光を入射し、透過もしくは散乱される光量や波長の変化を受光器で捉えることにより目的成分の定量、定性分析を行う。受光器に外部からの光など光源以外の光が入光すると、光の光量や波長の変化を正しく測光することができなくなるため、目的成分の分析も正しく測定できなくなる。特に、複数の分析ポートを備えた分析ユニットの構成において、ある分析ポートにて分析実施中に、他の分析ポートに各種機構がアクセスすることにより、この機構に反射した光等の外乱光が分析中の分析ポートに進入し、測定結果に影響を及ぼすことがあった。 複数の分析ポートを備えた分析ユニットにおいて、第1の遮光機構と開口部を備えた第2の遮光機構により、分析中の分析ポートに外乱光を入射させることなく、任意の分析ポートに各種機構がアクセスすることのできる自動分析装置を提供する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
また、:
CN107923924EP3343231US20180259460