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1. (WO2017033242) 劣化検出構造体、劣化検出方法及び劣化検出システム

Pub. No.:    WO/2017/033242    International Application No.:    PCT/JP2015/073614
Publication Date: Fri Mar 03 00:59:59 CET 2017 International Filing Date: Sat Aug 22 01:59:59 CEST 2015
IPC: G01N 17/00
Applicants: HITACHI, LTD.
株式会社日立製作所
Inventors: OKAMURA Masayuki
岡村 昌幸
ISHIDA Susumu
石田 進
NARAHARA Akari
楢原 明理
Title: 劣化検出構造体、劣化検出方法及び劣化検出システム
Abstract:
構造物の腐食を簡易にかつ安定して検出できる劣化検出構造体、劣化検出方法及び劣化検出システムを提供する。構造物の劣化を検出する劣化検出構造体であって、被検出領域1に接触する第1の面3aと、第1の面3aと離間した第2の面3bと、第1の面3aと第2の面3bとの間の領域に充填された、劣化を検出する劣化検出材料と、第1の面3aと第2の面3bとの間に形成された複数の孔部2と、を有する。