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1. (WO2017033037) TERAHERTZ WAVEFRONT MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

国際公開番号: WO/2017/033037 国際出願番号: PCT/IB2015/001589
国際公開日: 02.03.2017 国際出願日: 25.08.2015
IPC:
G01J 1/42 (2006.01) ,G01J 1/04 (2006.01) ,G01J 9/00 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
J
赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
1
測光,例.写真の露出計
42
電気的な放射線検出器によるもの
G 物理学
01
測定;試験
J
赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
1
測光,例.写真の露出計
02
細部
04
光学部分または機械部分
G 物理学
01
測定;試験
J
赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
9
光学的位相差の測定;コヒーレンス度の決定;光学的波長の測定
出願人:
UNIVERSITE DE BORDEAUX [FR/FR]; 35, place Pey Berland F-33000 Bordeaux, FR
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE [FR/FR]; 3, rue Michel Ange F-75016 Paris, FR
発明者:
ABRAHAM, Emmanuel Pierre Michel; FR
FREYSZ, Eric; FR
DEGERT, Jérôme; FR
YASUI, Takeshi; JP
CAHYADI, Harsono; JP
代理人:
CHAUVIN, Vincent; FR
優先権情報:
発明の名称: (EN) TERAHERTZ WAVEFRONT MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE MESURE DE FRONT D'ONDE TÉRAHERTZ
要約:
(EN) The invention concerns a Terahertz wavefront measurement system comprising a spatial mask (4, 24) selected among a Terahertz lens array (24) or an array of apertures (4, 14). According to the invention, the Terahertz wavefront measurement system comprises an infrared camera (9), a nonlinear electro-optical crystal (5) having a first face and a second face, the first face being placed adjacent to the spatial mask (4, 24) for receiving an array of multispots in the Terahertz frequency range and the second face being placed for receiving an ultrashort pulsed infrared probe beam (20) and for generating a reflected beam (30) in the infrared frequency range having a wavefront spatial distribution depending on the array of multispots in the Terahertz frequency range, the infrared camera (9) being configured for detecting an image of the reflected beam (30) in the infrared frequency range and a processing system for analyzing the image of reflected beam (30).
(FR) L'invention concerne un système de mesure de front d'onde Térahertz comprenant un masque spatial (4, 24) choisi parmi un réseau de lentilles Térahertz (24) ou un réseau d'ouvertures (4, 14). Selon l'invention, le système de mesure de front d'onde Térahertz comprend une caméra infrarouge (9), un cristal électro-optique non linéaire (5) ayant une première face et une seconde face, la première face étant placée de manière adjacente au masque spatial (4, 24) pour recevoir un réseau de points multiples dans la plage de fréquence Térahertz et la seconde face étant placée pour recevoir un faisceau de sonde infrarouge à impulsions ultracourtes (20) et pour générer un faisceau réfléchi (30) dans la gamme de fréquences des infrarouges ayant une distribution spatiale de fronts d'ondes dépendante du réseau de points multiples dans la plage de fréquence Térahertz, la caméra infrarouge (9) étant configurée pour détecter une image du faisceau réfléchi (30) dans la gamme de fréquences des infrarouges et un système de traitement pour analyser l'image du faisceau réfléchi (30).
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 英語 (EN)
国際出願言語: 英語 (EN)