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1. (WO2017022840) 分光器、及び分光器の製造方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2017/022840 国際出願番号: PCT/JP2016/073016
国際公開日: 09.02.2017 国際出願日: 04.08.2016
IPC:
G01J 3/18 (2006.01) ,B29C 43/02 (2006.01) ,G01J 3/36 (2006.01) ,G02B 5/18 (2006.01) ,G02B 5/32 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
J
赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
3
分光測定;分光光度測定;モノクロメータ;色の測定
12
スペクトルの発生;モノクロメータ
18
回折素子,例.回折格子,によるもの
B 処理操作;運輸
29
プラスチックの加工;可塑状態の物質の加工一般
C
プラスチックの成形または接合;可塑状態の物質の成形一般;成形品の後処理,例.補修
43
圧縮成形,すなわち,付加された外部圧で成形材料を流動させるもの;そのための装置
02
一定長の物品,すなわち.不連続物品,の圧縮成形
G 物理学
01
測定;試験
J
赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
3
分光測定;分光光度測定;モノクロメータ;色の測定
28
スペクトルの調査
30
スペクトル上で直接スペクトル線強度を測定するもの
36
別々の検出器によるスペクトル中の2以上のバンドの調査
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
5
レンズ以外の光学要素
18
回折格子
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
5
レンズ以外の光学要素
32
光学素子として用いられるホログラム
出願人:
浜松ホトニクス株式会社 HAMAMATSU PHOTONICS K.K. [JP/JP]; 静岡県浜松市東区市野町1126番地の1 1126-1, Ichino-cho, Higashi-ku, Hamamatsu-shi, Shizuoka 4358558, JP
発明者:
能野 隆文 YOKINO Takafumi; JP
柴山 勝己 SHIBAYAMA Katsumi; JP
加藤 勝彦 KATO Katsuhiko; JP
代理人:
長谷川 芳樹 HASEGAWA Yoshiki; JP
黒木 義樹 KUROKI Yoshiki; JP
柴山 健一 SHIBAYAMA Kenichi; JP
優先権情報:
2015-15386204.08.2015JP
発明の名称: (EN) SPECTROSCOPE, AND SPECTROSCOPE PRODUCTION METHOD
(FR) SPECTROSCOPE ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DE SPECTROSCOPE
(JA) 分光器、及び分光器の製造方法
要約:
(EN) This spectroscope is provided with: a support body provided with a bottom wall part in which a recessed portion including a concave curved inner surface is provided, and side wall parts provided to the side of the bottom wall part at which the recessed portion is open; a light detection element supported on the side wall parts in a state of facing the recessed portion; a resin layer provided on at least the inner surface of the recessed portion; and a light dispersion part provided to the resin layer on the inner surface of the recessed portion. The resin layer is in contact with the inside surfaces of the side wall parts. The thickness of the resin layer in a first direction in which the recessed portion and the light detection element face each other is greater in sections in contact with the inside surfaces of the side wall parts, than in a section provided on the inner surface of the recessed portion.
(FR) L'invention concerne un spectroscope qui est pourvu : d'un corps de support muni d'une partie de paroi inférieure dans laquelle une partie évidée comportant une surface intérieure incurvée concave est formée, et des parties de paroi latérale placées sur le côté de la partie de paroi inférieure sur lequel la partie évidée est ouverte ; un élément de détection de lumière supporté sur les parties de paroi latérale de telle sorte qu'il fait face à la partie évidée ; une couche de résine déposée sur au moins la surface interne de la partie évidée ; et une partie de dispersion de la lumière formée sur la couche de résine sur la surface interne de la partie évidée. La couche de résine est en contact avec les surfaces intérieures des parties de paroi latérale. L'épaisseur de la couche de résine dans une première direction dans laquelle la partie évidée et l'élément de détection de lumière se font face est plus grande dans les sections en contact avec les surfaces intérieures des parties de paroi latérale que dans une section formée sur la surface interne de la partie évidée.
(JA) 分光器は、凹曲面状の内面を含む凹部が設けられた底壁部と、底壁部に対して凹部が開口する側に配置された側壁部と、を有する支持体と、凹部と対向した状態で側壁部に支持された光検出素子と、少なくとも凹部の内面上に配置された樹脂層と、凹部の内面上において樹脂層に設けられた分光部と、を備える。樹脂層は、側壁部の内側表面と接触している。凹部と光検出素子とが互いに対向する第1方向における樹脂層の厚さは、凹部の内面上に配置されている部分よりも、側壁部の内側表面と接触している部分のほうが、大きい。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
また、:
CH10201800000122CN107850489KR1020180037176DE112016003515US20180216997