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1. (WO2017013874) 測位装置、測位システムおよび測位方法

Pub. No.:    WO/2017/013874    International Application No.:    PCT/JP2016/003390
Publication Date: Fri Jan 27 00:59:59 CET 2017 International Filing Date: Wed Jul 20 01:59:59 CEST 2016
IPC: G01S 19/32
G01S 19/07
G01S 19/40
Applicants: NEC CORPORATION
日本電気株式会社
Inventors: NAKANISHI, Takumi
中西 拓己
Title: 測位装置、測位システムおよび測位方法
Abstract:
[課題] GPSの測位精度を向上させることができる、測位装置、測位システムおよび測位方法を提供することを目的とする。 [解決手段] 第1の周波数の第1の測位信号および第1の測位信号に関する第1の補正情報に基づいて第1の測位結果を出力する第1の測位手段と、第1の測位信号、第2の周波数の第2の測位信号および第2の測位信号に関する第2の補正情報に基づいて第2の測位結果を出力する第2の測位手段と、出力された第1の測位結果と出力された第2の測位結果との比較結果に基づいて第1の測位結果または第2の測位結果の一方を選択して測位情報として出力する決定手段と、を備えることを特徴とする測位装置。