WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | Français | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

国際・国内特許データベース検索
World Intellectual Property Organization
オプション
検索言語
語幹処理適用
並び替え:
表示件数
このアプリケーションの一部のコンテンツは現時点では利用できません。
このような状況が続く場合は、にお問い合わせくださいフィードバック & お問い合わせ
1. (WO2017010258) 検査装置、検査方法、及び、プログラム
国際事務局に記録されている最新の書誌情報    第三者情報を提供

国際公開番号: WO/2017/010258 国際出願番号: PCT/JP2016/068778
国際公開日: 19.01.2017 国際出願日: 24.06.2016
IPC:
G01N 21/27 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
25
色;スペクトル特性,すなわち2またはそれ以上の波長あるいは波長帯において材料が光に与える効果の比較
27
光電検出器を用いるもの
出願人: SONY CORPORATION[JP/JP]; 1-7-1, Konan, Minato-ku, Tokyo 1080075, JP
発明者: MURAKAMI Yoshihiro; JP
TAKASHIMA Masatoshi; JP
MATSUI Akira; JP
代理人: NISHIKAWA Takashi; JP
優先権情報:
2015-13913810.07.2015JP
発明の名称: (EN) INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION, PROCÉDÉ D'INSPECTION ET PROGRAMME
(JA) 検査装置、検査方法、及び、プログラム
要約:
(EN) The present invention relates to an inspection device, inspection method, and program whereby precise correction of a measurement beam can be performed. The inspection device according to the present invention calculates a correction gain of a spectrum on the basis of reference spectrum information of a reference reflecting plate under a reference light source, the reference reflecting plate having a characteristic corresponding to an inspection object, and measurement spectrum information of the reference reflecting plate obtained by sensing under a measurement light source, and corrects the measurement spectrum information of the inspection object obtained by sensing under the measurement light source on the basis of the calculated correction gain. The present invention can be applied to a vegetation inspection device for measuring a normalized difference vegetation index (NVDI) or other vegetation index, for example.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d'inspection, un procédé d'inspection et un programme, moyennant quoi une correction précise d'un faisceau de mesure peut être réalisée. Le dispositif d'inspection selon la présente invention calcule un gain de correction d'un spectre sur la base d'informations de spectre de référence d'une plaque réfléchissante de référence sous une source de lumière de référence, la plaque réfléchissante de référence ayant une caractéristique correspondant à un objet d'inspection, ainsi que d'informations de spectre de mesure de la plaque réfléchissante de référence obtenues par détection sous une source de lumière de mesure, puis corrige les informations de spectre de mesure de l'objet d'inspection obtenues par détection sous la source de lumière de mesure sur la base du gain de correction calculé. La présente invention peut être appliquée à un dispositif d'inspection de végétation pour la mesure d'un indice de végétation par différence normalisée (NVDI) ou un autre indice de végétation, par exemple.
(JA) 本技術は、正確な測定光補正を行うことができるようにする検査装置、検査方法、及び、プログラムに関する。 検査装置は、検査対象物に応じた特性を有する基準反射板の基準光源下における基準スペクトル情報、及び、測定光源下でのセンシングにより得られた基準反射板の測定スペクトル情報に基づいて、スペクトルの補正ゲインを算出し、算出された補正ゲインに基づいて、測定光源下でのセンシングにより得られた検査対象物の測定スペクトル情報を補正する。本技術は、例えば、正規化植生指数(NDVI)等の植生指数を測定する植生検査装置に適用することができる。
front page image
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)