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1. (WO2017010214) 欠陥測定方法、欠陥測定装置および検査プローブ
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

国際公開番号: WO/2017/010214 国際出願番号: PCT/JP2016/067807
国際公開日: 19.01.2017 国際出願日: 15.06.2016
IPC:
G01N 27/82 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27
電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
72
磁気変量の調査によるもの
82
きずの調査用
出願人:
住友化学株式会社 SUMITOMO CHEMICAL COMPANY, LIMITED [JP/JP]; 東京都中央区新川二丁目27番1号 27-1, Shinkawa 2-chome, Chuo-ku, Tokyo 1048260, JP
発明者:
多田 豊和 TADA, Toyokazu; JP
末次 秀彦 SUETSUGU, Hidehiko; JP
代理人:
特許業務法人HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK; 大阪府大阪市北区天神橋2丁目北2番6号 大和南森町ビル Daiwa Minamimorimachi Building, 2-6, Tenjinbashi 2-chome Kita, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300041, JP
優先権情報:
2015-14238916.07.2015JP
発明の名称: (EN) DEFECT MEASUREMENT METHOD, DEFECT MEASUREMENT DEVICE, AND TESTING PROBE
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DE DÉFAUTS, DISPOSITIF DE MESURE DE DÉFAUTS ET SONDE D'ANALYSE
(JA) 欠陥測定方法、欠陥測定装置および検査プローブ
要約:
(EN) In order to quantitatively measure defects in a magnetic material member, the output of a Hall element (3) is measured using a testing probe (100) provided with a magnet (2) and the Hall element (3), which is disposed on a magnetic circuit formed by the magnet (2) and a magnetic pipe (P) and detects the density of the magnetic flux flowing through said magnetic circuit, and the presence/absence of a defect and the depth of the defect are calculated on the basis of the output of the Hall element (3).
(FR) Selon l'invention, pour pouvoir mesurer quantitativement les défauts présents dans un élément de matériau magnétique, le produit d'un élément à effet Hall (3) est mesuré à l'aide d'une sonde d'analyse (100) pourvue d'un aimant (2) et de l'élément à effet Hall (3), qui se trouve sur un circuit magnétique formé par l'aimant (2) et un conduit magnétique (P) et qui détecte la densité du courant magnétique circulant par ledit circuit magnétique, la présence/l'absence d'un défaut et la profondeur dudit défaut étant calculées en fonction du produit de l'élément à effet Hall (3).
(JA) 磁性体部材における欠陥を定量的に測定する。磁石(2)と、磁石(2)および磁性体管(P)が形成する磁気回路上に配置され、当該磁気回路を流れる磁束密度を検出するホール素子(3)とを備える検査プローブ(100)を用いてホール素子(3)の出力を測定し、ホール素子(3)の出力に基づいて、欠陥の有無および欠陥の深さを算出する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)