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1. (WO2017009987) 検査装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

国際公開番号: WO/2017/009987 国際出願番号: PCT/JP2015/070308
国際公開日: 19.01.2017 国際出願日: 15.07.2015
IPC:
H05K 13/08 (2006.01) ,G01R 31/00 (2006.01)
H 電気
05
他に分類されない電気技術
K
印刷回路;電気装置の箱体または構造的細部,電気部品の組立体の製造
13
電気部品の組立体の製造または調整に特に適した装置または方法
08
組立体の製造の監視
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
出願人:
富士機械製造株式会社 FUJI MACHINE MFG. CO., LTD. [JP/JP]; 愛知県知立市山町茶碓山19番地 19, Chausuyama, Yama-machi, Chiryu-shi, Aichi 4728686, JP
発明者:
澤田 利幸 SAWADA, Toshiyuki; JP
岩島 賢史 IWASHIMA, Satoshi; JP
代理人:
特許業務法人中部国際特許事務所 CHUBU PATENT OFFICE; 愛知県名古屋市中村区名駅4丁目2番25号 名古屋ビルディング東館 7階 Nagoya-Bldg. Higashikan 7th Floor, 2-25, Meieki 4-chome, Nakamura-ku, Nagoya-shi, Aichi 4500002, JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) INSPECTION DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION
(JA) 検査装置
要約:
(EN) Provided is an inspection device in which measurement accuracy for the electrical properties of a component is improved. This inspection device includes: a holding platform 32; a pair of probes 34, 36 that are capable of gripping a component s held by said holding platform 32 and measuring electrical properties; and a relative movement device that moves the holding platform 32 and the pair of probes 34, 36 relative to each other. In a state (b) in which the component s is clamped by the pair of probes 34, 36, the holding platform 32 is moved to separate the component s and the holding platform 32 by at least a set value, and electrical properties are measured in this measurement state (c). As a result, even if the holding platform 32 is produced using a conductive material, the influence on the component s can be reduced, and electrical properties can be measured accurately.
(FR) L'invention concerne un dispositif d'inspection dont la précision de la mesure des propriétés électriques d'un composant est améliorée. Ce dispositif d'inspection comprend : une plate-forme de maintien 32 ; une paire de sondes 34, 36 qui sont capables de saisir un composant s maintenu par ladite plate-forme de maintien 32 et de mesurer des propriétés électriques ; et un dispositif de déplacement relatif qui déplace la plate-forme de capables 32 et la paire de sondes 34, 36 l'une par rapport à l'autre. Dans un état (b) dans lequel le composant s est serré par la paire de sondes 34, 36, la plate-forme de maintien 32 est déplacée pour séparer le composant s et la plate-forme de maintien 32 d'au moins une valeur de consigne, et les propriétés électriques sont mesurées dans cet état de mesure (c). En conséquence, même si la plate-forme de maintien 32 est produite à l'aide d'un matériau conducteur, l'influence sur le composant s peut être réduite et les propriétés électriques peuvent être mesurées avec précision.
(JA) 検査装置において、部品の電気的特性の測定精度を向上させる。 検査装置は、保持台32と、その保持台32に保持された部品sを把持して電気的特性を測定可能な一対の測定子34,36と、保持台32と一対の測定子34,36とを互いに相対移動させる相対移動装置とを含む。部品sが一対の測定子34,36によってクランプされた状態(b)で、保持台32が移動させられることにより、部品sと保持台32とが設定値以上離間させられ、その測定状態(c)で電気的特性が測定される。その結果、保持台32が導電材料によって製造されたものであっても、部品sへの影響を小さくすることができ、電気的特性を精度よく測定することができる。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)