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1. (WO2017006603) 故障診断回路、および故障診断方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

国際公開番号: WO/2017/006603 国際出願番号: PCT/JP2016/061246
国際公開日: 12.01.2017 国際出願日: 06.04.2016
IPC:
G01R 31/02 (2006.01) ,H02H 7/00 (2006.01) ,H02P 7/00 (2016.01)
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
02
電気的装置,電線または構成要素の短絡,断線,漏電もしくは誤接続の試験
H 電気
02
電力の発電,変換,配電
H
非常保護回路装置
7
特定の電気機械または装置,またはケーブルあるいは線路系統の区間保護に特に適用され,正常な動作状態からの異常変化の場合に自動スイッチングを行なわせる非常保護回路装置(特殊な機械または装置と保護装置との構造的結合および自動断路を有しない保護装置は,機械または装置に関連するサブクラスを参照)
H 電気
02
電力の発電,変換,配電
P
電動機,発電機,回転変換機の制御または調整;変圧器またはリアクトルまたはチョークコイルの制御
7
直流電動機の速度またはトルクの調整または制御装置
出願人:
株式会社東海理化電機製作所 KABUSHIKI KAISHA TOKAI RIKA DENKI SEISAKUSHO [JP/JP]; 愛知県丹羽郡大口町豊田三丁目260番地 3-260 Toyota, Oguchi-cho, Niwa-gun, Aichi 4800195, JP
発明者:
宮崎 伸一 MIYAZAKI, Shinichi; JP
鈴木 達也 SUZUKI, Tatsuya; JP
代理人:
亀谷 美明 KAMEYA, Yoshiaki; JP
優先権情報:
2015-13610807.07.2015JP
発明の名称: (EN) FAULT DIAGNOSIS CIRCUIT AND FAULT DIAGNOSIS METHOD
(FR) CIRCUIT DE DIAGNOSTIC DE DÉFAILLANCE ET PROCÉDÉ DE DIAGNOSTIC DE DÉFAILLANCE
(JA) 故障診断回路、および故障診断方法
要約:
(EN) Provided is a fault diagnosis circuit for diagnosing an open-circuit fault in a reverse connection protection transistor, the fault diagnosis circuit being provided with: a power feed part including a switching transistor placed in an on state or an off state in response to a control signal applied to a control terminal, the switching transistor being electrically connected to each of a power source and a reverse connection protection transistor, and electrical power being fed from the power source to the reverse connection protection transistor when the switching transistor is in the on state; a power feed control part for outputting a control signal to the switching transistor and thereby controlling power feeding and stopping of power feeding to the reverse connection protection transistor; and a diagnosis part for diagnosing an open-circuit fault in the reverse connection protection transistor on the basis of the output state of the control signal and the result of detecting a voltage between the switching transistor and the reverse connection protection transistor.
(FR) L'invention concerne un circuit de diagnostic de défaillance pour diagnostiquer une défaillance de circuit ouvert dans un transistor de protection contre un raccordement inverse, le circuit de diagnostic de défaillance comprenant : une partie d'alimentation électrique comprenant un transistor de commutation placé dans un état de marche ou un état d'arrêt en réponse à un signal de commande appliqué à une borne de commande, le transistor de commutation étant connecté électriquement à chacun parmi une source d'alimentation et un transistor de protection contre un raccordement inverse, et l'énergie électrique étant fournie par la source d'alimentation au transistor de protection contre un raccordement inverse lorsque le transistor de commutation est dans l'état de marche ; une partie de commande d'alimentation électrique pour délivrer un signal de commande au transistor de commutation et, de ce fait, commander l'alimentation électrique et l'arrêt de l'alimentation électrique du transistor de protection contre un raccordement inverse ; et une partie de diagnostic pour diagnostiquer une défaillance de circuit ouvert dans le transistor de protection contre un raccordement inverse, sur la base de l'état de sortie du signal de commande et du résultat de détection d'une tension entre le transistor de commutation et le transistor de protection contre un raccordement inverse.
(JA) 逆接保護トランジスタの開放故障を診断する故障診断回路であって、電源および逆接保護トランジスタそれぞれと電気的に接続され、制御端子に印加される制御信号に応じてオン状態またはオフ状態となるスイッチングトランジスタを含み、スイッチングトランジスタがオン状態のときに電源から逆接保護トランジスタへと給電が行われる給電部と、制御信号をスイッチングトランジスタに出力することにより、逆接保護トランジスタへの給電と給電の停止とを制御する給電制御部と、制御信号の出力状態と、スイッチングトランジスタと逆接保護トランジスタとの間の電圧の検出結果とに基づいて、逆接保護トランジスタの開放故障を診断する診断部と、を備える、故障診断回路が提供される。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)