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1. (WO2017006383) 蛍光X線分析装置及びそれに用いられるスペクトル表示方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

国際公開番号: WO/2017/006383 国際出願番号: PCT/JP2015/069264
国際公開日: 12.01.2017 国際出願日: 03.07.2015
IPC:
G01N 23/223 (2006.01)
[IPC code unknown for G01N 23/223]
出願人:
株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511, JP
発明者:
古川 博朗 FURUKAWA, Hiroaki; JP
代理人:
鹿島 義雄 KASHIMA, Yoshio; JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS DEVICE, AND SPECTRUM DISPLAY METHOD USED IN SAME
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE PAR FLUORESCENCE À RAYONS X ET PROCÉDÉ D'AFFICHAGE DU SPECTRE UTILISÉ DANS CELUI-CI
(JA) 蛍光X線分析装置及びそれに用いられるスペクトル表示方法
要約:
(EN) An X-ray fluorescence analysis device provided with an X-ray tube (10) for emitting X-rays to a sample and a detector (30) for detecting the X-rays from the sample in order to identify fluorescent X-rays and diffraction X-rays by software means without modifying a device configuration and to display the fluorescent X-ray information and the diffraction X-ray information on the peaks in a spectrum, a spectrum that shows the relationship between X-ray energy and element content being created and displayed on the basis of the X-rays detected by the detector (30), wherein the X-ray fluorescence analysis device is provided with an identification information creation unit (61c) for creating identification information in which peak positions produced by the diffraction X-rays generated by the crystal structure of the sample are specified, and a display control unit (61d) for displaying the diffraction X-ray information on the peaks in the spectrum on the basis of the identification information.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d'analyse par fluorescence à rayons X pourvu d'un tube à rayons X (10) destiné à émettre des rayons X sur un échantillon et un détecteur (30) destiné à détecter les rayons X provenant de l'échantillon afin d'identifier les rayons X fluorescents et les rayons X de diffraction au moyen d'un logiciel sans modifier une configuration de dispositif et d'afficher les informations de rayons X fluorescents et les informations de rayons X de diffraction sur les pics dans un spectre, un spectre qui indique la relation entre l'énergie de rayons X et le contenu d'élément étant créé et affiché sur la base des rayons X détectés par le détecteur (30), le dispositif d'analyse par fluorescence de rayons X étant pourvu d'une unité de création d'informations d'identification (61c) destinée à créer des informations d'identification dans lesquelles des positions de pic produites par les rayons X de diffraction produits par la structure cristalline de l'échantillon sont spécifiées et une unité de commande d'affichage (61d) destinée à afficher les informations de rayons X de diffraction sur les pics dans le spectre sur la base des informations d'identification.
(JA) 装置構成を変更することなく、ソフトウエア的に蛍光X線と回折X線とを識別して、蛍光X線情報と回折X線情報とをスペクトル中のピークに表示するために、X線を試料に出射するX線管10と、試料からのX線を検出する検出器30とを備え、検出器30で検出されたX線に基づいて、X線エネルギーと元素の含有量との関係を示すスペクトルを作成して表示する蛍光X線分析装置であって、試料の結晶構造によって生じる回折X線によるピーク位置を特定した識別情報を作成する識別情報作成部61cと、識別情報に基づいて、スペクトル中のピークに回折X線情報を表示する表示制御部61dとを備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)