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1. (WO2017002831) 計測システム及び計測方法

Pub. No.:    WO/2017/002831    International Application No.:    PCT/JP2016/069197
Publication Date: Fri Jan 06 00:59:59 CET 2017 International Filing Date: Thu Jun 30 01:59:59 CEST 2016
IPC: G01B 11/25
Applicants: UNIVERSITY OF MIYAZAKI
国立大学法人 宮崎大学
Inventors: KAWASUE, Kikuhito
川末 紀功仁
YOSHIDA, Kumiko
吉田 久美子
Title: 計測システム及び計測方法
Abstract:
計測システムSは、管体9にスリット状の複数のスリットレーザ光23a~23dを照射するスリット光照射装置2と、スリットレーザ光23a~23dの各々と所定の位置関係を有するドット状の複数のドットレーザ光を管体9に照射するドット光照射装置3と、管体9の表面に現れる複数の輝線L1~L4と、管体9の表面に現れる複数の輝点Dとを撮像して、撮像画像を生成する撮像装置4と、撮像画像と、複数の輝線L1~L4及び輝点Dの予め定まった位置関係を示す基準画像とを対比して、撮像画像の輝線L1~L4とスリットレーザ光23a~23dとの対応関係を特定する特定部152と、撮像画像における輝線L1~L4の二次元座標と、特定部152特定した対応関係とに基づいて、輝線L1~L4の三次元座標を取得する取得部153とを備える。