WO2017002798 記録媒体、フラーレン薄膜の製造方法、記録再生装置、情報記録方法、及び、情報読み出し方法

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1. (WO2017002798) 記録媒体、フラーレン薄膜の製造方法、記録再生装置、情報記録方法、及び、情報読み出し方法

国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号:	WO/2017/002798	国際出願番号:	PCT/JP2016/069117
国際公開日:	05.01.2017	国際出願日:	28.06.2016

IPC:

G11B 9/04 (2006.01) ,G11B 9/14 (2006.01)

出願人:

昭和電工株式会社 SHOWA DENKO K.K. [JP/JP]; 東京都港区芝大門一丁目１３番９号 13-9, Shibadaimon 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058518, JP

発明者:

利根川　翔 TONEGAWA Sho; JP

市川　雅敏 ICHIKAWA Masatoshi; JP

塙　健三 HANAWA Kenzo; JP

代理人:

志賀　正武 SHIGA Masatake; JP

優先権情報:

2015-131656		30.06.2015		JP
2016-038355		29.02.2016		JP

発明の名称:

(EN) RECORDING MEDIUM, FULLERENE THIN FILM MANUFACTURING METHOD, RECORDING AND REPRODUCING DEVICE, INFORMATION RECORDING METHOD, AND INFORMATION READ-OUT METHOD
(FR) SUPPORT D'ENREGISTREMENT, PROCÉDÉ DE FABRICATION DE FILM MINCE EN FULLERÈNE, DISPOSITIF D'ENREGISTREMENT ET DE REPRODUCTION, PROCÉDÉ D'ENREGISTREMENT D'INFORMATIONS ET PROCÉDÉ DE LECTURE D'INFORMATIONS
(JA) 記録媒体、フラーレン薄膜の製造方法、記録再生装置、情報記録方法、及び、情報読み出し方法

要約:

(EN) The recording medium according to the present invention is characterized by comprising: a substrate; a platinum layer formed on the substrate and having a preferentially oriented (111) surface; and a fullerene mono-crystalline thin film which is a recording layer formed on the platinum layer, wherein, on the surface of the fullerene thin film, an average value of average roughnesses Ra for at least four fields of view, which are measured using an atomic force microscope, is 0.5 nm or less.
(FR) Selon l'invention, le support d'enregistrement est caractérisé par le fait qu'il comprend : un substrat ; une couche de platine formée sur le substrat et comprenant une surface orientrée de manière préférentielle (111) ; et un film mince mono-cristallin en fullerène qui est une couche d'enregistrement formée sur la couche de platine. À la surface du film mince en fullerène, une valeur moyenne de rugosité moyenne Ra pour au moins quatre champs de vision, qui sont mesurés au moyen d'un microscope à force atomique, est au maximum de 0,5 nm.
(JA) 本発明の記録媒体は、基板と、該基板上に形成され、（１１１）面が優先配向した白金層と、該白金層上に形成された、記録層であるフラーレン単結晶薄膜と、を備え、前記フラーレン薄膜の表面において原子間力顕微鏡を用いて測定した平均表面粗さＲａの４つ以上の視野についての平均値が０．５ｎｍ以下であることを特徴とする。

指定国:

AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)

国際公開言語:

日本語 (JA)

国際出願言語:

日本語 (JA)

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