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1. (WO2017002436) 自動分析装置

Pub. No.:    WO/2017/002436    International Application No.:    PCT/JP2016/062872
Publication Date: Fri Jan 06 00:59:59 CET 2017 International Filing Date: Tue Apr 26 01:59:59 CEST 2016
IPC: G01N 21/82
G01N 21/49
Applicants: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION
株式会社日立ハイテクノロジーズ
Inventors: ISHIDA Takeshi
石田 猛
ADACHI Sakuichiro
足立 作一郎
YAMAZAKI Hajime
山崎 創
IIJIMA Masahiko
飯島 昌彦
Title: 自動分析装置
Abstract:
自動分析装置において反応液の必要最小液量を微量化し、測定範囲のダイナミックレンジを拡大するために、サンプルと試薬とが混合した反応液7を納めるセル6と、セル内の反応液を一定温度に制御するための恒温槽40と、セルに光を照射する光源1と、セルに納められた反応液と相互作用した後の散乱光をそれぞれ異なる受光角度で受光する複数の散乱光受光器12a~12cと、セルに納められた反応液を透過した後の透過光を受光する透過光受光器11と、恒温槽の光源側に設けられたスリット4と、光源と前記スリットとの間に配置された第1の集光レンズ3と、スリットとセルとの間かつ恒温槽中に配置された第2の集光レンズ5と、を有する。