WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | Français | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

国際・国内特許データベース検索
World Intellectual Property Organization
検索
 
閲覧
 
翻訳
 
オプション
 
最新情報
 
ログイン
 
ヘルプ
 
自動翻訳
1. (WO2017002221) 電流計測システムおよび方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2017/002221    国際出願番号:    PCT/JP2015/068916
国際公開日: 05.01.2017 国際出願日: 30.06.2015
IPC:
G01N 27/00 (2006.01), G01R 19/00 (2006.01), G01R 27/02 (2006.01)
出願人: HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280 (JP)
発明者: NARA Yoshikazu; (JP)
代理人: SEIRYO I.P.C.; 24-2, Hatchobori 2-chome, Chuo-ku, Tokyo 1040032 (JP)
優先権情報:
発明の名称: (EN) CURRENT MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE MESURE DE COURANT
(JA) 電流計測システムおよび方法
要約: front page image
(EN)The present invention provides a current measurement system having reduced observation signal waveform rounding that can be used, for example, to achieve a nanopore measurement system. The present invention achieves a current measurement system or nanopore measurement system capable of reducing the occurrence of waveform rounding in an observation signal by applying a current/voltage conversion circuit having a function for fixing or semi-fixing a voltage Vb (namely, the voltage applied to a device under measurement) generated at an access resistor R2 terminal 1 and observing the current flowing through the device under measurement.
(FR)La présente invention concerne un système de mesure de courant ayant l'arrondissement de forme d'onde de signal d'observation réduit, qui peut être utilisé, par exemple, pour obtenir un système de mesure de nanopore. La présente invention permet d'obtenir un système de mesure de courant ou un système de mesure nanopore susceptible de réduire l'apparition d'arrondissement de forme d'onde dans un signal d'observation par application d'un circuit de conversion courant/tension ayant une fonction pour fixer ou semi-fixer une tension Vb (c'est-à-dire, la tension appliquée à un dispositif en cours de mesure) générée au niveau d'une borne 1 de résistance R2 d'accès et d'observer du courant circulant à travers le dispositif en cours de mesure.
(JA)観測信号の波形なまりが低減された電流計測システム,用途として例えば、ナノポア計測システムを実現するための技術を提供する。 アクセス抵抗R2の端子1に発生する電圧Vb(つまり,被測定デバイスに印加される電圧)を固定化,若しくは半固定化する機能を有する電流-電圧変換回路を適用して被測定デバイスに流れる電流を観測することで,観測信号に発生する波形なまりを低減する電流計測システム,ナノポア計測システムを実現する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)