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1. WO2016189930 - 動特性試験装置及び動特性試験方法

公開番号 WO/2016/189930
公開日 01.12.2016
国際出願番号 PCT/JP2016/057893
国際出願日 14.03.2016
IPC
G01R 31/26 2014.1
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
26個々の半導体装置の試験
CPC
A61B 1/00071
AHUMAN NECESSITIES
61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
1Instruments for performing medical examinations of the interior of cavities or tubes of the body by visual or photographical inspection, e.g. endoscopes
00064Constructional details of the endoscope body
00071Insertion part of the endoscope body
A61B 1/00135
AHUMAN NECESSITIES
61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
1Instruments for performing medical examinations of the interior of cavities or tubes of the body by visual or photographical inspection, e.g. endoscopes
00131Accessories for endoscopes
00135Oversleeves
A61B 1/015
AHUMAN NECESSITIES
61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
1Instruments for performing medical examinations of the interior of cavities or tubes of the body by visual or photographical inspection, e.g. endoscopes
012characterised by internal passages or accessories therefor
015Control of fluid supply or evacuation
A61B 1/018
AHUMAN NECESSITIES
61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
1Instruments for performing medical examinations of the interior of cavities or tubes of the body by visual or photographical inspection, e.g. endoscopes
012characterised by internal passages or accessories therefor
018for receiving instruments
A61B 17/29
AHUMAN NECESSITIES
61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
17Surgical instruments, devices or methods, e.g. tourniquets
28Surgical forceps
29Forceps for use in minimally invasive surgery
A61B 18/12
AHUMAN NECESSITIES
61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
18Surgical instruments, devices or methods for transferring non-mechanical forms of energy to or from the body
04by heating
12by passing a current through the tissue to be heated, e.g. high-frequency current
出願人
  • 新東工業株式会社 SINTOKOGIO, LTD. [JP]/[JP]
発明者
  • 坂本 陽一 SAKAMOTO Yoichi
  • 瀧田 伸幸 TAKITA Nobuyuki
代理人
  • 長谷川 芳樹 HASEGAWA Yoshiki
優先権情報
2015-10836328.05.2015JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) DYNAMIC CHARACTERISTIC TEST APPARATUS AND DYNAMIC CHARACTERISTIC TEST METHOD
(FR) APPAREIL D'ESSAI DE CARACTÉRISTIQUE DYNAMIQUE ET PROCÉDÉ D'ESSAI DE CARACTÉRISTIQUE DYNAMIQUE
(JA) 動特性試験装置及び動特性試験方法
要約
(EN) This dynamic characteristic test apparatus comprises: a power source; a reactor; a selection circuit that has first and second switching units electrically connected in series with each other, a third diode connected in parallel to the first switching unit, and a fourth diode connected in parallel to the second switching unit, and that is for selecting a first semiconductor or a second semiconductor as a subject for switching measurement; a third switching unit that switches between supplying current and stopping the supply from the power source to the first semiconductor or the second semiconductor; and a control device that controls switching between on states and off states of the switching units. A first connection part electrically connecting the first and second semiconductors with each other is electrically connected, via the reactor, to a second connection part electrically connecting the first and second switching units with each other. The control device turns on the second and third switching units when switching measurement of the first semiconductor is started, turns off the second switching unit in accordance with the end of the switching measurement of the first semiconductor, and then, turns off the third switching unit.
(FR) La présente invention concerne un appareil d'essai de caractéristique dynamique qui comprend : une source de puissance ; une bobine de réactance ; un circuit de sélection qui a des première et deuxième unités de commutation connectées électriquement en série l'une à l'autre, une troisième diode reliée en parallèle à la première unité de commutation et une quatrième diode connectée en parallèle à la seconde unité de commutation et qui est destinée à sélectionner un premier semi-conducteur ou un second semi-conducteur en tant que sujet de mesure de commutation ; une troisième unité de commutation qui commute entre la fourniture de courant et l'arrêt de l'alimentation à partir de la source de puissance pour le premier semi-conducteur ou le second semi-conducteur ; et un dispositif de commande qui commande la commutation entre des états de marche et des états d'arrêt des unités de commutation. Une première partie de connexion connectant électriquement le premier et le second semi-conducteurs, l'un à l'autre est électriquement connectée, par l'intermédiaire de la bobine de réactance, à une seconde partie de connexion connectant électriquement les première et deuxième unités de commutation l'une à l'autre. Le dispositif de commande met en marche les deuxième et troisième unités de commutation lorsque la commutation de mesure du premier semi-conducteur est démarrée, met hors tension la deuxième unité de commutation en fonction de la fin de la commutation de mesure du premier semi-conducteur et ensuite, met hors tension la troisième unité de commutation.
(JA) 動特性試験装置は、電源と、リアクトルと、電気的に直列に接続された第1,第2スイッチ部、第1スイッチ部に電気的に並列に接続された第3ダイオード、並びに、第2スイッチ部に電気的に並列に接続された第4ダイオードを有し、第1半導体又は第2半導体をスイッチング測定の対象として選択するための選択回路と、電源から第1半導体または第2半導体への電流の供給及び遮断を切り替える第3スイッチ部と、各スイッチ部のオン状態及びオフ状態を切替制御する制御装置と、を備える。第1,第2半導体を電気的に接続する第1接続部と第1,第2スイッチ部を電気的に接続する第2接続部とは、リアクトルを介して電気的に接続される。制御装置は、第1半導体のスイッチング測定を開始時に第2,第3スイッチ部をオン状態とし、第1半導体のスイッチング測定の終了に応じて第2スイッチ部をオフ状態とした後、第3スイッチ部をオフ状態とする。
関連特許文献
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