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1. (WO2016185692) 光学デバイス
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2016/185692    国際出願番号:    PCT/JP2016/002296
国際公開日: 24.11.2016 国際出願日: 10.05.2016
IPC:
G02F 1/29 (2006.01), E06B 9/24 (2006.01), G02F 1/13 (2006.01), G02F 1/1333 (2006.01)
出願人: PANASONIC INTELLECTUAL PROPERTY MANAGEMENT CO., LTD. [JP/JP]; 1-61, Shiromi 2-chome, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5406207 (JP)
発明者: KUBOTA, Hirofumi; (--).
SUZUKA, Yuko; (--)
代理人: KAMATA, Kenji; (JP)
優先権情報:
2015-103935 21.05.2015 JP
発明の名称: (EN) OPTICAL DEVICE
(FR) DISPOSITIF OPTIQUE
(JA) 光学デバイス
要約: front page image
(EN)An optical device (1) is provided with: a first electrode (13); a second electrode (14); a refractive index adjustment layer (15) whereby a refractive index is changed by an electric field, and the refractive index adjustment layer (15) can change between a transparent state and a state for distributing incident light; and a depression/projection layer (16) having a plurality of projections (20) protruding toward the second electrode (14). The refractive index adjustment layer (15) is disposed between the first electrode (13) and the second electrode (14). The depression/projection layer (16) is disposed between the first electrode (13) and the refractive index adjustment layer (15). The plurality of projections (20) are stripe shaped. The projections (20) are substantially trapezoidal in cross-section. The bottom angle θ at both ends of the bottom of the trapezoid cross-sectional shape of the projections (20) is 75 degrees to 85 degrees.
(FR)L'invention concerne un dispositif optique (1) comportant : une première électrode (13); une seconde électrode (14); une couche (15) d'ajustement d'indice de réfraction permettant la modification d'un indice de réfraction par un champ électrique, la couche (15) d'ajustement de l'indice de réfraction pouvant transiter entre un état transparent et un état de distribution de lumière incidente; et une couche (16) d'éléments creux/saillants comportant une pluralité d'éléments saillants (20) faisant saillie vers la seconde électrode (14). La couche (15) d'ajustement d'indice de réfraction est placée entre la première électrode (13) et la seconde électrode (14). La couche (16) d'éléments creux/saillants est placée entre la première électrode (13) et la couche (15) d'ajustement de l'indice de réfraction. La pluralité des éléments sailants (20) sont en forme de bande. Les éléments saillants (20) sont sensiblement trapézoïdaux en section transversale. L'angle inférieur θ aux deux extrémités de la partie inférieure de la section transversale trapézoïdale des éléments saillants (20) est compris entre 75 degrés et 85 degrés.
(JA)光学デバイス(1)は、第1電極(13)と、第2電極(14)と、電界により屈折率が変化し、透明状態と入射光を配光する状態とが変化可能な屈折率調整層(15)と、第2電極(14)に向かって突出する複数の凸部(20)を有する凹凸層(16)とを備える。屈折率調整層(15)は、第1電極(13)と第2電極(14)との間に配置される。凹凸層(16)は、第1電極(13)と屈折率調整層(15)との間に配置される。複数の凸部(20)は、ストライプ状である。凸部(20)は、断面が略台形形状である。凸部(20)の断面形状である台形の下底の両端にある底角θが75度以上85度以下である。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)