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1. (WO2016185518) 原子間力顕微鏡の情報取得方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報    第三者情報を提供

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2016/185518    国際出願番号:    PCT/JP2015/064050
国際公開日: 24.11.2016 国際出願日: 15.05.2015
IPC:
G01Q 60/24 (2010.01)
出願人: OLYMPUS CORPORATION [JP/JP]; 43-2, Hatagaya 2-chome, Shibuya-ku, Tokyo 1510072 (JP)
発明者: SAKAI, Nobuaki; (JP)
代理人: KURATA, Masatoshi; (JP)
優先権情報:
発明の名称: (EN) INFORMATION ACQUIRING METHOD FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE
(FR) PROCÉDÉ D'ACQUISITION D'INFORMATIONS POUR MICROSCOPE À FORCE ATOMIQUE
(JA) 原子間力顕微鏡の情報取得方法
要約: front page image
(EN)This information acquiring method for an atomic force microscope comprises: a first interaction generation step for generating, between a sample and a probe provided at the free end of a cantilever, a first interaction having a first magnitude, during a relative raster scanning of the cantilever and the sample while a mechanical interaction between the probe and the sample is being generated; a first information acquisition step for acquiring first information on the sample when the first interaction occurs between the probe and the sample; a second interaction generation step for generating, between the probe and the sample, a second interaction having a second magnitude; and a second information acquisition step for acquiring second information on the sample when the second interaction occurs between the probe and the sample. The first magnitude of the first interaction differs from the second magnitude of the second interaction. The first interaction generation step, the first information acquisition step, the second interaction generation step, and the second information acquisition step are performed in the same scan region.
(FR)L'invention concerne un procédé d'acquisition d'informations pour un microscope à force atomique qui comprend : une première étape de génération d'interaction consistant à générer, entre un échantillon et une sonde disposée sur l'extrémité libre d'un porte-à-faux, une première interaction ayant une première amplitude, pendant un balayage de trame relatif du porte-à-faux et de l'échantillon, pendant la génération d'une interaction mécanique entre la sonde et l'échantillon; une première étape d'acquisition d'informations consistant à acquérir des premières informations sur l'échantillon lorsque la première interaction se produit entre la sonde et l'échantillon; une seconde étape de génération d'interaction consistant à générer, entre la sonde et l'échantillon, une seconde interaction ayant une seconde amplitude; et une seconde étape d'acquisition d'informations consistant à acquérir des secondes informations sur l'échantillon lorsque la seconde interaction se produit entre la sonde et l'échantillon. La première amplitude de la première interaction diffère de la seconde amplitude de la seconde interaction. La première étape de génération d'interaction, la première étape d'acquisition d'informations, la seconde étape de génération d'interaction, et la seconde étape d'acquisition d'informations sont effectuées dans la même région de balayage.
(JA)原子間力顕微鏡の情報取得方法は、カンチレバーの自由端に設けられた探針と試料の間に力学的な相互作用を生じさせながらカンチレバーと試料を相対的にラスター走査させるあいだ、探針と試料の間に第一の大きさを有する第一の相互作用を生じさせる第一の相互作用生成工程と、探針と試料の間に第一の相互作用が生じているときの試料の第一の情報を取得する第一の情報取得工程と、探針と試料の間に第二の大きさを有する第二の相互作用を生じさせる第二の相互作用生成工程と、探針と試料の間に第二の相互作用が生じているときの試料の第二の情報を取得する第二の情報取得工程とを有している。第一の相互作用の第一の大きさと第二の相互作用の第二の大きさは互いに異なっている。第一の相互作用生成工程と第一の情報取得工程と第二の相互作用生成工程と第二の情報取得工程は同一走査領域において行われる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)