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1. (WO2016163177) X線撮影装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2016/163177    国際出願番号:    PCT/JP2016/056298
国際公開日: 13.10.2016 国際出願日: 01.03.2016
IPC:
A61B 6/00 (2006.01)
出願人: SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511 (JP)
発明者: TANABE Koichi; (JP).
FURUI Shingo; (JP).
YOSHIMUTA Toshinori; (JP).
KIMURA Kenji; (JP).
NISHIMURA Akihiro; (JP).
SHIRAI Taro; (JP).
DOKI Takahiro; (JP).
SANO Satoshi; (JP).
HORIBA Akira; (JP).
SATO Toshiyuki; (JP)
代理人: SUGITANI Tsutomu; (JP)
優先権情報:
2015-080168 09.04.2015 JP
発明の名称: (EN) X-RAY IMAGING APPARATUS
(FR) APPAREIL D'IMAGERIE À RAYONS X
(JA) X線撮影装置
要約: front page image
(EN)An X-ray imaging apparatus 1 according to Example 1 comprises an X-ray detector 5 having a configuration wherein scintillator elements are defined by a lattice-like light shielding wall. A portion of X-rays incident on the X-ray detector 5 is incident on the light shielding wall and passes through the X-ray detector 5 without being converted to scintillator light. Therefore, since the X-ray detector 5 that receives X-rays has the scintillator elements defined by the lattice-like light shielding wall, arbitrarily defined, more limited regions of the X-ray detector 5 are allowed to receive X-rays 3a that have passed through a subject M similarly to when X-rays pass through a detection mask. Thus a detection mask from the X-ray imaging apparatus 1 which is used in the EI-XPCi method can be dispensed with, allowing manufacturing costs of the X-ray imaging apparatus 1 to be reduced.
(FR)L’invention concerne un appareil d'imagerie à rayons X (1) selon l'exemple 1 comprenant un détecteur de rayons X (5) présentant une configuration dans laquelle des éléments scintillateurs sont délimités par une paroi de protection contre la lumière de type treillis. Une partie des rayons X incidents sur le détecteur de rayons X (5) est incidente sur la paroi de protection contre la lumière et passe à travers le détecteur de rayons X (5) sans être convertie en lumière de scintillateur. Par conséquent, étant donné que le détecteur de rayons X (5) qui reçoit les rayons X présente des éléments scintillateurs délimités par la paroi de protection contre la lumière de type treillis, délimités de manière arbitraire, des régions plus limitées du détecteur de rayons X (5) sont autorisées à recevoir les rayons X (3a) qui sont passés à travers un sujet M, comme lorsque les rayons X passent à travers un masque de détection. Ainsi un masque de détection à partir de l'appareil d'imagerie à rayons X (1) qui est utilisé dans le procédé EI-XPCi devient alors superflu, permettant la réduction des coûts de fabrication de l'appareil d'imagerie à rayons X 1.
(JA) 実施例1に係るX線撮影装置1において、X線検出器5は格子状の遮光壁によってシンチレータ素子が区画された構成を有する。X線検出器5に入射するX線のうち、遮光壁に入射するX線はシンチレータ光に変換されることなくX線検出器5を透過する。従って、格子状の遮光壁によってシンチレータ素子が区画されたX線検出器5にX線を入射することにより、検出マスクを通過させる場合と同様に、被検体Mを透過したX線3aがX線検出器5に入射する領域をさらに任意の範囲に制限できる。従って、EI-XPCiに用いるX線撮影装置1において検出マスクを省略できるので、X線撮影装置1の製造コストを低減できる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)