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1. (WO2016157680) 信号処理装置、光断層測定装置および信号処理方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2016/157680    国際出願番号:    PCT/JP2016/000613
国際公開日: 06.10.2016 国際出願日: 05.02.2016
IPC:
G01N 21/17 (2006.01)
出願人: SONY CORPORATION [JP/JP]; 1-7-1 Konan, Minato-ku, Tokyo 1080075 (JP)
発明者: HARA, Masaaki; (JP).
OKAMOTO, Yoshiki; (JP)
代理人: OMORI, Junichi; (JP)
優先権情報:
2015-070971 31.03.2015 JP
発明の名称: (EN) SIGNAL PROCESSING DEVICE, OPTICAL TOMOGRAPHIC MEASURING DEVICE, AND SIGNAL PROCESSING METHOD
(FR) DISPOSITIF DE TRAITEMENT DE SIGNAL, DISPOSITIF DE MESURE TOMOGRAPHIQUE OPTIQUE, ET PROCÉDÉ DE TRAITEMENT DE SIGNAL
(JA) 信号処理装置、光断層測定装置および信号処理方法
要約: front page image
(EN)[Solution] According to the present invention, a signal processing device is included in an optical tomographic measuring device which generates a measurement light and a reference light, and which measures a tomographic structure of a subject to be measured on the basis of signal intensity of interference light between the reference light and return light of the measurement light from the subject to be measured. The calculation unit is configured to calculate the signal intensity of a simple reflection that is a reflection, of the return light of the measurement light, at each of a plurality of layers virtually set toward the depth direction from the surface layer side of the subject to be measured. In addition, the calculation unit is configured to calculate, on the basis of the signal intensity of the simple reflection, the signal intensity of multiple reflections which is the signal intensity of return light generated by being reflected for three times or more at the plurality of layers.
(FR)Selon la présente invention, un dispositif de traitement de signal est compris dans un dispositif de mesure tomographique optique qui génère une lumière de mesure et une lumière de référence, et qui mesure une structure tomographique d'un sujet à mesurer sur la base de l'intensité de signal d'une lumière d'interférence entre la lumière de référence et la lumière de retour de la lumière de mesure provenant du sujet à mesurer. L'unité de calcul est configurée pour calculer l'intensité de signal d'une réflexion simple qui est une réflexion, de la lumière de retour de la lumière de mesure, sur chacune d'une pluralité de couches virtuellement placées vers la direction de la profondeur à partir du côté couche de surface du sujet à mesurer. En outre, l'unité de calcul est configurée pour calculer, sur la base de l'intensité de signal de la réflexion simple, l'intensité de signal des réflexions multiples qui est l'intensité de signal de la lumière de retour générée par réflexion au moins trois fois au niveau de la pluralité de couches.
(JA)【解決手段】信号処理装置は、測定光および参照光を生成し、前記参照光と、被測定物からの前記測定光の戻り光との干渉光の信号強度に基づき、前記被測定物の断層構造を測定する光断層測定装置の信号処理装置である。前記演算部は、前記測定光の戻り光のうち、前記被測定物の表層側から深さ方向に仮想的に設定された複数の層でのそれぞれの1回の反射である単純反射の信号強度を算出するように構成される。また、前記演算部は、前記単純反射の信号強度に基づき、前記複数の層で3回以上反射されて生成される戻り光の信号強度である、多重反射の信号強度を算出するように構成される。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)