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1. (WO2016157415) 半導体検査装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2016/157415    国際出願番号:    PCT/JP2015/060148
国際公開日: 06.10.2016 国際出願日: 31.03.2015
IPC:
G01R 31/26 (2014.01), H01R 33/74 (2006.01)
出願人: UNITECHNO INC. [JP/JP]; 2-13-9, Shibaura, Minato-ku, Tokyo 1080023 (JP)
発明者: ADACHI, Tomoaki; (JP).
YAMADA, Munehiro; (JP)
代理人: ARIGA,Gunichiro; (JP)
優先権情報:
発明の名称: (EN) SEMICONDUCTOR INSPECTION DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION DE SEMI-CONDUCTEURS
(JA) 半導体検査装置
要約: front page image
(EN)The present invention provides a semiconductor inspection device that, even when used for a vertical handler, allows a contact pin of an inspection socket and an external contact terminal of an inspected IC to reliably come into contact with each other. A semiconductor inspection device 1 has an inspection socket 3 having a socket surface 31 formed thereon, the socket surface 31 having contact pins 32 protruding therefrom, and a semiconductor transportation jig 2 having a recess 22 into which an inspected IC 4 is inserted. The semiconductor inspection device 1 is characterized in that: a position adjustment guide 33 is provided in the inspection socket 3; a guide through-hole 27 through which the position adjustment guide 33 passes when the inspected IC 4 is inspected is provided in the semiconductor transportation jig 2; and one of the position adjustment guide 33 and the guide through-hole 27 is tapered.
(FR)La présente invention concerne un dispositif d'inspection de semi-conducteurs qui, même lorsqu'il est utilisé pour un automate programmable vertical, permet à une broche de contact d'une douille d'inspection et à une borne de contact externe d'un circuit intégré (IC pour Integrated Circuit) inspecté de venir en contact de manière fiable l'une avec l'autre. Un dispositif d'inspection de semi-conducteurs (1) comprend une douille d'inspection (3) sur laquelle est formée une surface de douille (31), la surface de douille (31) ayant des broches de contact (32) qui font saillie à partir de celle-ci, et un gabarit de transport de semi-conducteur (2) ayant un évidement (22) dans lequel est inséré un circuit intégré inspecté (4). Le dispositif d'inspection de semi-conducteurs (1) est caractérisé en ce que : un guide de réglage de la position (33) est disposé dans la douille d'inspection (3) ; un trou traversant de guidage (27) à travers lequel passe le guide de réglage de position (33) lorsque le circuit intégré inspecté (4) est inspecté, est ménagé dans le gabarit de transport de semi-conducteur (2) ; et soit le guide de réglage de position (33), soit le trou traversant de guidage (27) est effilé.
(JA) 垂直型ハンドラーに用いられても検査用ソケットのコンタクトピンと被検査ICの外部接触端子を確実に接触させることができる半導体検査装置を提供する。コンタクトピン32が突出するソケット面31が形成された検査用ソケット3と、被検査IC4が挿入される凹部22が形成された半導体搬送治具2とを有する半導体検査装置1であって、検査用ソケット3に位置調整ガイド33が設けられ、半導体搬送治具2に、被検査IC4の検査時に位置調整ガイド33が貫通するガイド貫通孔27が設けられ、位置調整ガイド33およびガイド貫通孔27のいずれか一方がテーパー状に形成されていることを特徴とする半導体検査装置。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)