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1. (WO2016046692) マトリクス装置とその特性の測定方法、駆動方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2016/046692    国際出願番号:    PCT/IB2015/057062
国際公開日: 31.03.2016 国際出願日: 15.09.2015
IPC:
G01R 31/00 (2006.01), G01R 19/00 (2006.01), G09G 3/20 (2006.01), G09G 3/30 (2006.01), H01L 21/336 (2006.01), H01L 29/786 (2006.01)
出願人: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD. [JP/JP]; 398, Hase, Atsugi-shi, Kanagawa 2430036 (JP)
発明者: TAKEMURA, Yasuhiko; (JP)
優先権情報:
2014-196118 26.09.2014 JP
発明の名称: (EN) MATRIX DEVICE, AND DRIVE METHOD AND PROPERTIES MEASUREMENT METHOD FOR SAME
(FR) DISPOSITIF MATRICIEL ET PROCÉDÉS DE COMMANDE ET DE MESURE DE PROPRIÉTÉS ASSOCIÉS
(JA) マトリクス装置とその特性の測定方法、駆動方法
要約: front page image
(EN)Provided is a measurement method for the electrical current that can be supplied by the components of a matrix device. The present invention comprises: components (pixels) arranged in a matrix shape; a first wire; and a second wire and a third wire that intersect with the first wire. Each component comprises an electrical potential supply circuit, a transistor, and a capacitative element, and is designed such that, at a given point in time, one electrode of the capacitative element is equal to the electrical potential of the gate of the transistor, the other electrode of the capacitative element is equal to the electrical potential of the second wire, either the source or the drain of the transistor is equal to the electrical potential of the first wire, and the other among the source and the drain of the transistor is equal to the electrical potential of the third wire. In addition, the electrical potential of the second wire and the electrical potential of the third wire when each of the components supplies electrical current to the first wire in a given direction is different to the electrical potential of the second wire and the electrical potential of the third wire when each of the components supplies electrical current to the first wire in the opposite direction.
(FR)L'invention concerne un procédé de mesure du courant électrique qui peut être fourni par les composants d'un dispositif matriciel. La présente invention comprend : des composants (pixels) disposés sous une forme matricielle ; un premier fil ; un deuxième fil et un troisième fil qui croisent le premier fil. Chaque composant comprend un circuit d'alimentation en potentiel électrique, un transistor et un élément capacitif, et est conçu de telle sorte que, à un instant donné dans le temps, une électrode de l'élément capacitif est égale au potentiel électrique de la grille du transistor, l'autre électrode de l'élément capacitif est égale au potentiel électrique du deuxième fil, soit la source, soit le drain du transistor est égal au potentiel électrique du premier fil, et l'autre parmi la source et le drain du transistor est égal au potentiel électrique du troisième fil. En outre, le potentiel électrique du deuxième fil et le potentiel électrique du troisième fil, lorsque chacun des composants alimente en courant électrique le premier fil dans une direction donnée, est différent du potentiel électrique du deuxième fil et du potentiel électrique du troisième fil lorsque chacun des composants alimente en courant électrique le premier fil dans la direction opposée.
(JA)マトリクス装置のコンポーネントが供給できる電流の測定方法を提供する。 マトリクス型に配置されたコンポーネント (画素) と、 第1の配線と、 第1の配線と交差する第2の 配線と第3の配線と、 を有し、 各コンポーネントは、 電位供給回路とトランジスタと容量素子とを有 し、ある時点において、容量素子の一の電極は、トランジスタのゲートの電位と等しくなるように、 容量素子の他の電極は、 第2の配線の電位と等しくなるように、 トランジスタのソースおよびドレイ ンの一方は、第1の配線の電位と等しくなるように、トランジスタのソースおよびドレインの他方は、 第3の配線の電位と等しくなるように設計されており、 コンポーネントのそれぞれが、 ある向きの電 流を第1の配線に供給する場合の第2の配線の電位と第3の配線の電位は、コンポーネントのそれぞ れが、逆の向きの電流を第1の配線に供給する場合の第2の配線の電位と第3の配線の電位と異なる ように設計されている装置を用いる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)