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1. (WO2016035566) 固体撮像素子及びその信号処理方法、並びに電子機器
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2016/035566    国際出願番号:    PCT/JP2015/073463
国際公開日: 10.03.2016 国際出願日: 21.08.2015
IPC:
H04N 5/369 (2011.01), H01L 27/14 (2006.01), H01L 27/146 (2006.01), H04N 5/374 (2011.01), H04N 9/07 (2006.01)
出願人: SONY CORPORATION [JP/JP]; 1-7-1, Konan, Minato-ku, Tokyo 1080075 (JP)
発明者: SAKIOKA Youji; (JP).
TACHI Masayuki; (JP).
NISHIMAKI Hisashi; (JP).
YOSHIDA Taishin; (JP)
代理人: NISHIKAWA Takashi; (JP)
優先権情報:
2014-177171 01.09.2014 JP
発明の名称: (EN) SOLID-STATE IMAGING ELEMENT, SIGNAL PROCESSING METHOD THEREFOR, AND ELECTRONIC DEVICE
(FR) ÉLÉMENT D’IMAGERIE À SEMI-CONDUCTEURS, SON PROCÉDÉ DE TRAITEMENT DE SIGNAL, ET DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE
(JA) 固体撮像素子及びその信号処理方法、並びに電子機器
要約: front page image
(EN)The present disclosure pertains to a solid-state imaging element, a signal processing method, and an electronic device, with which a sensitivity correction is performed to reduce the difference in sensitivity between solid-state imaging elements. The solid-state imaging element has a pixel unit wherein one micro-lens is formed with respect to multiple pixels such that the boundary of the micro-lens coincides with the boundary of the pixels. A correction circuit corrects the difference in sensitivity between the pixels in the pixel unit on the basis of a correction coefficient. The present disclosure can be applied to solid-state imaging elements and the like.
(FR)La présente invention concerne un élément d’imagerie à semi-conducteurs, un procédé de traitement de signal et un dispositif électronique, avec lesquels une correction de sensibilité est réalisée pour réduire la différence de sensibilité entre des éléments d’imagerie à semi-conducteurs. L’élément d’imagerie à semi-conducteurs a une unité de pixel dans laquelle une microlentille est formée par rapport à de multiples pixels, de telle sorte que la limite de la microlentille coïncide avec la limite des pixels. Un circuit de correction corrige la différence de sensibilité entre les pixels dans l’unité de pixel, sur la base d’un coefficient de correction. La présente invention peut s’appliquer à des éléments d’imagerie à semi-conducteurs et analogues.
(JA) 本開示は、固体撮像素子間の感度差を抑制した感度補正を行うことができるようにする固体撮像素子及びその信号処理方法、並びに電子機器に関する。 固体撮像素子は、マイクロレンズの境界が画素の境界に一致するように、複数の画素に対して1つのマイクロレンズが形成されている画素ユニットを有する。補正回路は、画素ユニット内の画素どうしの感度差を、補正係数に基づいて補正する。本開示は、例えば、固体撮像素子等に適用できる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)