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1. (WO2016031567) 複屈折測定装置および複屈折測定方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2016/031567    国際出願番号:    PCT/JP2015/072783
国際公開日: 03.03.2016 国際出願日: 11.08.2015
IPC:
G01N 21/23 (2006.01)
出願人: THE DOSHISHA [JP/JP]; 601, Gembu-cho, Karasuma-higashi-iru, Imadegawa-dori, Kamigyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6028580 (JP).
NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY [JP/JP]; 3-1, Kasumigaseki 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008921 (JP)
発明者: EMOTO, Akira; (JP).
OTANI, Naoki; (JP).
FUKUDA, Takashi; (JP)
代理人: MINORI PATENT PROFESSION CORPORATION; Chiyoda Seimei Kyoto Oike Bldg. 8F, 200, Takamiya-cho, Oike-dori Takakura Nishi-iru, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6040835 (JP)
優先権情報:
2014-171159 26.08.2014 JP
発明の名称: (EN) BIREFRINGENCE MEASUREMENT DEVICE AND BIREFRINGENCE MEASUREMENT METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE LA BIRÉFRINGENCE ET PROCÉDÉ DE MESURE DE LA BIRÉFRINGENCE
(JA) 複屈折測定装置および複屈折測定方法
要約: front page image
(EN)The present invention addresses the problem of providing a birefringence measurement device that has a simple structure without a rotating mechanism and is capable of measuring the detailed two-dimensional distribution of the birefringence of an object of measurement in real time. A birefringence measurement device 1A according to the present invention is characterized by being provided with a light beam generation means 2 for generating a light beam L1, light beam irradiation means 3, 4, 5 for irradiating the light beam L1 onto an object of measurement 20 in a predetermined polarization state, an image-formation optical system 10 for forming the light beam L4 having passed through the object of measurement 20 into an image, a polarization grating 8 disposed within the image-formation optical system 10, an imaging means 12 for generating a brightness-and-darkness signal pertaining to the brightness and darkness of the image formed by the image-formation optical system 10, and an output means for outputting information that has been determined on the basis of the brightness-and-darkness signal and pertains to the phase difference of the light beam L4 resulting from the passing of the light beam through the object of measurement 20, and in that the imaging means 12 generates the brightness-and-darkness signal for at least one of the diffracted beams L7 from among the plurality of diffracted beams generated by the polarization grating 8.
(FR)L'invention concerne le problème de la fourniture d'un dispositif de mesure de la biréfringence qui a une structure simple sans mécanisme de rotation et est capable de mesurer la répartition bidimensionnelle détaillée de la biréfringence d'un objet de mesure en temps réel. Un dispositif de mesure de la biréfringence 1A selon la présente invention est caractérisé en ce qu'il est pourvu d'un moyen de génération de faisceau de lumière 2 pour générer un faisceau de lumière L1, d'un moyen d'irradiation de faisceau de lumière 3, 4, 5 pour irradier le faisceau de lumière L1 sur un objet de mesure 20 dans un état de polarisation prédéterminé, d'un système optique de formation d'image 10 pour former le faisceau de lumière L4 ayant traversé l'objet de mesure 20 en une image, d'un réseau de polarisation 8 disposé à l'intérieur du système optique de formation d'image 10, d'un moyen d'imagerie 12 pour générer un signal de luminosité et d'obscurité relatif à la luminosité et l'obscurité de l'image formée par le système optique de formation d'image 10, et d'un moyen de sortie pour émettre en sortie des informations qui ont été déterminées sur la base du signal de luminosité et d'obscurité et se rapporte à la différence de phase du faisceau de lumière L4 résultant du passage du faisceau lumineux à travers l'objet de mesure 20, et en ce que le moyen d'imagerie 12 génère le signal de luminosité et d'obscurité pour au moins l'un des faisceaux diffractés L7 parmi la pluralité de faisceaux diffractés générés par la grille de polarisation 8.
(JA) 本発明は、回転機構のないシンプルな構成で、測定対象物の複屈折の二次元分布をリアルタイムにかつ詳細に測定することができる複屈折測定装置を提供することを課題とする。 本発明に係る複屈折測定装置1Aは、光束L1を生成する光束生成手段2と、光束L1を予め定められた偏光状態にして測定対象物20に照射する光束照射手段3,4,5と、測定対象物20を透過した光束L4を結像させる結像光学系10と、結像光学系10の途中に配置された偏光回折格子8と、結像光学系10により結像された像の明暗に関する明暗信号を生成する撮像手段12と、明暗信号に基づいて求めた、測定対象物20を透過したことにより生じた、光束L4における位相差に関する情報を出力する出力手段とを備え、撮像手段12は、偏光回折格子8が生じさせた複数の回折光のうちの少なくとも一つの回折光L7の像の明暗信号を生成することを特徴とする。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)