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1. (WO2016031486) 粒子撮像装置および粒子撮像方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2016/031486    国際出願番号:    PCT/JP2015/071727
国際公開日: 03.03.2016 国際出願日: 30.07.2015
予備審査請求日:    28.06.2016    
IPC:
G01N 15/14 (2006.01)
出願人: SYSMEX CORPORATION [JP/JP]; 5-1, Wakinohama-Kaigandori 1-chome, Chuo-ku, Kobe-shi, Hyogo 6510073 (JP)
発明者: TABATA, Seiichiro; (JP).
ISHISAKA, Masaki; (JP).
AKAMA, Kenji; (JP).
MIURA, Yoshinobu; (JP).
YANAGIDA, Masatoshi; (JP)
代理人: SHIBANO, Masanori; (JP)
優先権情報:
2014-173642 28.08.2014 JP
2015-103253 20.05.2015 JP
発明の名称: (EN) PARTICLE IMAGE-CAPTURING DEVICE AND PARTICLE IMAGE-CAPTURING METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE CAPTURE D'IMAGE DE PARTICULE
(JA) 粒子撮像装置および粒子撮像方法
要約: front page image
(EN)[Problem] Provided is a particle image-capturing device and a particle image-capturing method which enable a particle being imaged to be imaged with high quality while the processing speed of a measuring device is maintained. [Solution] A particle image-capturing device 10 is provided with: a flow path 100 for flowing a measurement sample containing a particle, the flow path 100 including a first flow path section 110, and a second flow path section 120 and a third flow path section 130 which are connected to downstream of the first flow path section 110; a particle detection unit 20 for detecting a particle flowing through the first flow path section 110; a particle sorting unit 30 capable of selectively adjusting the travel direction of the particle, which flows through the first flow path section 110, at least between the second flow path section 120 and the third flow path section 130 on the basis of the detection result provided by the particle detection unit 20; and a particle image-capturing unit 50 for imaging a particle flowing through the second flow path section 120.
(FR)Le problème décrit par la présente invention est de pourvoir à un dispositif de capture d'image de particule et à un procédé de capture d'image de particule, qui permettent qu'une particule soit imagée avec une qualité élevée tout en maintenant la vitesse de traitement d'un dispositif de mesure. La solution selon l'invention porte sur un dispositif (10) de capture d'image de particule, qui est équipé : d'un passage (100) permettant l'écoulement d'un échantillon de mesure contenant une particule, le passage (100) comprenant une première section (110) de passage, et une deuxième section (120) de passage ainsi qu'une troisième section (130) de passage qui sont reliées à la partie avale de la première section (110) de passage ; d'une unité de détection (20) de particule permettant de détecter une particule s'écoulant à travers la première section (110) de passage ; d'une unité de tri (30) de particule, qui peut régler de manière sélective le sens de déplacement de la particule, qui s'écoule à travers la première section (110) de passage, au moins entre la deuxième section (120) de passage et la troisième section (130) de passage sur la base du résultat de détection fourni par l'unité de détection (20) de particule ; et d'une unité de capture d'image (50) de particule permettant d'imager une particule s'écoulant à travers la deuxième section (120) de passage.
(JA)【課題】測定装置の処理速度を維持しつつ撮像対象の粒子を高品質で撮像できる粒子撮像装置および粒子撮像方法を提供する。 【解決手段】粒子撮像装置10は、第1流路部110、第1流路部110の下流側に接続された第2流路部120および第3流路部130を備え、粒子を含む測定試料を流すための流路100と、第1流路部110を流れる粒子を検出する粒子検出部20と、粒子検出部20による検出結果に基づいて、第1流路部110を流れる粒子の進行方向を少なくとも第2流路部120および第3流路部130から選択的に調整可能な粒子選別部30と、第2流路部120を流れる粒子を撮像する粒子撮像部50と、を備える。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)