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1. (WO2016031360) 表面プラズモン検出装置および表面プラズモン検出方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2016/031360    国際出願番号:    PCT/JP2015/067428
国際公開日: 03.03.2016 国際出願日: 17.06.2015
IPC:
G01N 21/41 (2006.01)
出願人: SHARP KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 1, Takumi-cho, Sakai-ku, Sakai City, Osaka 5908522 (JP)
発明者: KANETSUKI, Norio; .
WATANABE, Yukio; .
NAKAGAWA, Masatoshi; .
UEGAKI, Shinya;
代理人: FUKAMI PATENT OFFICE, P.C.; Nakanoshima Central Tower, 2-7, Nakanoshima 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300005 (JP)
優先権情報:
2014-173927 28.08.2014 JP
発明の名称: (EN) SURFACE PLASMON DETECTION DEVICE AND SURFACE PLASMON DETECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF DE DÉTECTION DE PLASMONS DE SURFACE ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE PLASMONS DE SURFACE
(JA) 表面プラズモン検出装置および表面プラズモン検出方法
要約: front page image
(EN)A surface plasmon detection device (1) is provided with: a surface plasmon element (60) that includes a dielectric member having a main surface and a metallic thin film formed on the main surface and reflects, through the surface plasmon phenomenon at the interface of the dielectric member and metallic thin film, incident light (L1) comprising a light beam having an angle of incidence distribution as reflected light (L2) comprising a light beam having angularly dependent light amounts; a projection unit (2) for projecting the incident light (L1) toward the surface plasmon element (60); and a light reception unit (3) for receiving the reflected light (L2) reflected by the surface plasmon element (60). The light reception unit (3) has a light reception area configured such that light amounts varying according to light amount distribution differences resulting from the angular dependency of the reflected light (L2) are detected.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de détection de plasmons de surface (1) qui est pourvu de : un élément de plasmons de surface (60) qui comprend un élément diélectrique ayant une surface principale et une couche mince métallique formée sur la surface principale et réfléchit, par l'intermédiaire du phénomène de plasmons de surface à l'interface de l'élément diélectrique et de la couche mince métallique, une lumière incidente (L1) comprenant un faisceau lumineux ayant une distribution d'angle d'incidence sous forme de lumière réfléchie (L2) comprenant un faisceau lumineux ayant des quantités de lumière ayant une dépendance angulaire; une unité de projection (2) pour projeter la lumière incidente (L1) vers l'élément de plasmons de surface (60); et une unité de réception de lumière (3) pour recevoir la lumière réfléchie (L2) réfléchie par l'élément de plasmon de surface (60). L'unité de réception de lumière (3) comporte une zone de réception de lumière configurée de sorte que les quantités de lumière variant en fonction des différences de distribution de quantité de lumière résultant de la dépendance angulaire de la lumière réfléchie (L2) soient détectées.
(JA) 表面プラズモン検出装置(1)は、主表面を有する誘電体部材および主表面上に形成された金属薄膜を含み、誘電体部材と金属薄膜との界面における表面プラズモン現象により、入射角度に分布を有する光束から成る入射光(L1)を、光量に角度依存性を有する光束から成る反射光(L2)として反射する表面プラズモン素子(60)と、表面プラズモン素子(60)に向けて入射光(L1)を投光する投光部(2)と、表面プラズモン素子(60)にて反射された反射光(L2)を受光する受光部(3)とを備える。受光部(3)は、反射光(L2)の角度依存性に起因した光量分布の相違に応じて異なる光量が検出されるように構成された受光領域を有している。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)