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1. (WO2015146744) 工具検査方法及び工具検査装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2015/146744 国際出願番号: PCT/JP2015/058054
国際公開日: 01.10.2015 国際出願日: 18.03.2015
IPC:
G01B 11/30 (2006.01) ,B23Q 17/22 (2006.01) ,B23Q 17/24 (2006.01) ,G01B 11/00 (2006.01) ,G01N 21/88 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11
光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
30
表面の粗さまたは不規則性測定用
B 処理操作;運輸
23
工作機械;他に分類されない金属加工
Q
工作機械の細部;構成部分,または付属装置,例.倣いまたは制御装置;特定の細部または構成部分の構造により特徴づけられる工作機械一般;特定の結果を目的としない金属加工機械の組合わせ
17
工作機械上において指示または測定する装置の配置
22
工具または工作物の現在位置または所望位置を指示または測定するもの
B 処理操作;運輸
23
工作機械;他に分類されない金属加工
Q
工作機械の細部;構成部分,または付属装置,例.倣いまたは制御装置;特定の細部または構成部分の構造により特徴づけられる工作機械一般;特定の結果を目的としない金属加工機械の組合わせ
17
工作機械上において指示または測定する装置の配置
24
光学系を用いるもの
G 物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11
光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84
特殊な応用に特に適合したシステム
88
きず,欠陥,または汚れの存在の調査
出願人:
株式会社タカコ TAKAKO INDUSTRIES, INC. [JP/JP]; 京都府相楽郡精華町祝園西一丁目32番地1 32-1, Housono-Nishi 1-chome, Seika-cho, Souraku-gun, Kyoto 6190240, JP
発明者:
石崎 義公 ISHIZAKI, Yoshitomo; JP
宮本 優 MIYAMOTO, Masaru; JP
服部 智仁 HATTORI, Tomohito; JP
陳 延偉 CHEN, Yanwei; JP
王 汀 WANG, Ting; JP
代理人:
後藤 政喜 GOTO, Masaki; JP
優先権情報:
2014-06597427.03.2014JP
発明の名称: (EN) TOOL INSPECTION METHOD AND TOOL INSPECTION DEVICE
(FR) PROCÉDÉ D'INSPECTION D'OUTIL ET DISPOSITIF D'INSPECTION D'OUTIL
(JA) 工具検査方法及び工具検査装置
要約:
(EN) The present invention is provided with: a grayscale image generation step for imaging a tool to be inspected and generating a grayscale image, a histogram generation step for generating a histogram showing the distribution of brightness values in the grayscale image by number of pixels, and a determination step for determining the state of the tool to be inspected on the basis of the histogram.
(FR) L'invention concerne un procédé d'inspection d'outil et un dispositif d'inspection d'outil comprenant : une étape de génération d'imagerie achromatique destinée à imager un outil à inspecter et générer une image achromatique, une étape de génération d'histogramme destinée à générer un histogramme représentant la répartition des valeurs de luminosité dans l'image achromatique en nombre de pixels, et une étape de détermination de l'état de l'outil à inspecter sur la base de l'histogramme.
(JA)  検査対象となる対象工具を撮像し、グレースケール画像を生成するグレースケール画像生成工程と、グレースケール画像について、輝度値に対する画素数の分布を示すヒストグラムを生成するヒストグラム生成工程と、ヒストグラムに基づいて対象工具の状態を判定する判定工程と、を備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)