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1. (WO2015146727) 有機ELデバイスの検査装置、検査方法及び製造方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2015/146727 国際出願番号: PCT/JP2015/057956
国際公開日: 01.10.2015 国際出願日: 17.03.2015
IPC:
H05B 33/10 (2006.01) ,G01R 31/26 (2014.01) ,H01L 51/50 (2006.01)
H 電気
05
他に分類されない電気技術
B
電気加熱;他に分類されない電気照明
33
エレクトロルミネッセンス光源
10
エレクトロルミネッセンス光源の製造に特に適用する装置または方法
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
26
個々の半導体装置の試験
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
51
能動部分として有機材料を用い,または能動部分として有機材料と他の材料との組み合わせを用いる固体装置;このような装置またはその部品の製造または処理に特に適用される方法または装置
50
光放出に特に適用されるもの,例.有機発光ダイオード(OLED)または高分子発光ダイオード(PLED)
出願人:
日東電工株式会社 NITTO DENKO CORPORATION [JP/JP]; 大阪府茨木市下穂積1丁目1番2号 1-2, Shimohozumi 1-chome, Ibaraki-shi, Osaka 5678680, JP
発明者:
丹野 嘉之 TANNO, Yoshiyuki; JP
長瀬 純一 NAGASE, Junichi; JP
木樽 智也 KITARU, Tomoya; JP
代理人:
藤本 昇 FUJIMOTO, Noboru; JP
優先権情報:
2014-06959528.03.2014JP
発明の名称: (EN) INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD AND PRODUCTION METHOD FOR ORGANIC EL DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION, PROCÉDÉ D'INSPECTION ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DE DISPOSITIF ÉLECTROLUMINESCENT ORGANIQUE
(JA) 有機ELデバイスの検査装置、検査方法及び製造方法
要約:
(EN) Provided is an inspection device for an organic EL device, said inspection device being provided with: a conducting portion that makes contact with a conducting region of at least one organic EL element while gripping a substrate, moves the organic EL element so as to be sent downstream, releases the substrate that has been gripped, can be moved upstream so as to be able to make contact with a conducting region of an upstream organic EL element while gripping the substrate, and can cause the organic EL element to emit light by conducting electricity to the conducting region while gripping the substrate; and an inspection unit for inspecting the light emission state of an organic EL element that has been caused to emit light.
(FR) L'invention concerne un dispositif d'inspection pour dispositif électroluminescent comprenant : une partie conductrice qui entre en contact avec une région conductrice d'au moins un élément électroluminescent organique tout en saisissant un substrat, déplace l'élément électroluminescent organique de manière à l'envoyer en aval, libère le substrat qui a été saisi, peut être déplacé en amont de façon à être apte à entrer en contact avec une région conductrice d'un élément électroluminescent organique amont tout en saisissant le substrat, et peut amener l'élément électroluminescent organique à émettre de la lumière par conduction d'électricité sur la région conductrice tout en saisissant le substrat ; et une unité d'inspection pour inspecter l'état d'émission de lumière d'un élément électroluminescent organique qui a été amené à émettre de la lumière.
(JA)  少なくとも1つの有機EL素子の通電領域と接触しながら基材を掴み、該有機EL素子を下流側に送るように移動し、掴んだ前記基材を放し、上流側の有機EL素子の通電領域と接触しながら前記基材を掴むことができるように上流側に移動することが可能であり、且つ、前記基材を掴んだ状態で前記通電領域に通電させて前記有機EL素子を発光させることが可能な通電部と、発光させた有機EL素子の発光状態を検査する検査部とを備えた有機ELデバイスの検査装置。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)