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1. (WO2015146726) 有機ELデバイスの検査装置、検査方法及び製造方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2015/146726 国際出願番号: PCT/JP2015/057955
国際公開日: 01.10.2015 国際出願日: 17.03.2015
IPC:
H05B 33/10 (2006.01) ,G01R 31/26 (2014.01) ,H01L 51/50 (2006.01)
H 電気
05
他に分類されない電気技術
B
電気加熱;他に分類されない電気照明
33
エレクトロルミネッセンス光源
10
エレクトロルミネッセンス光源の製造に特に適用する装置または方法
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
26
個々の半導体装置の試験
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
51
能動部分として有機材料を用い,または能動部分として有機材料と他の材料との組み合わせを用いる固体装置;このような装置またはその部品の製造または処理に特に適用される方法または装置
50
光放出に特に適用されるもの,例.有機発光ダイオード(OLED)または高分子発光ダイオード(PLED)
出願人:
日東電工株式会社 NITTO DENKO CORPORATION [JP/JP]; 大阪府茨木市下穂積1丁目1番2号 1-2, Shimohozumi 1-chome, Ibaraki-shi, Osaka 5678680, JP
発明者:
丹野 嘉之 TANNO, Yoshiyuki; JP
木樽 智也 KITARU, Tomoya; JP
長瀬 純一 NAGASE, Junichi; JP
代理人:
藤本 昇 FUJIMOTO, Noboru; JP
優先権情報:
2014-06898728.03.2014JP
発明の名称: (EN) INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND PRODUCTION METHOD FOR ORGANIC EL DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION, PROCÉDÉ D'INSPECTION, ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DE DISPOSITIF ÉLECTROLUMINESCENT ORGANIQUE
(JA) 有機ELデバイスの検査装置、検査方法及び製造方法
要約:
(EN) Provided is an inspection device for an organic EL device, said inspection device being provided with: a support portion that supports an organic EL device substrate and sends an organic EL element in a length direction; a roller-shaped conducting portion that, by rotating and sequentially making contact with first and second conducting regions of a plurality of organic EL elements that are supported by the support portion, conducts electricity to first and second electrode layers, thereby causing the organic EL elements to emit light; and an inspection unit for inspecting the light emission state of the organic EL elements.
(FR) La présente invention porte sur un dispositif d'inspection pour dispositif électroluminescent (EL) organique, ledit dispositif d'inspection étant pourvu : d'une partie support qui soutient un substrat de dispositif EL organique et envoie un élément EL organique dans une direction longitudinale ; d'une partie conductrice en forme de rouleau qui, par rotation et établissement de contact d'une manière séquentielle avec des première et seconde régions conductrices d'une pluralité d'éléments EL organiques qui sont soutenus par la partie support, conduit l'électricité vers des première et seconde couches d'électrode, amenant ainsi les éléments EL organiques à émettre de la lumière ; et d'une unité d'inspection pour inspecter l'état d'émission de lumière des éléments EL organiques.
(JA)  有機ELデバイスの基材を支持しつつ有機EL素子を長手方向に送る支持部と、該支持部に支持されている複数の有機EL素子の第1及び第2の通電領域に回転しながら順次接触することによって、該第1及び第2の電極層に通電させて前記有機EL素子を発光させるローラ状の通電部と、有機EL素子の発光状態を検査する検査部とを備えた有機ELデバイスの検査装置。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)